dft约束的问题

在对设计啊定义dft_signal的时候，看到命令手册对testmode和scanenable有区分
如
set_dft_signal -view exist -type testmode
set_dft_signal -view exist -type scanenable
请问，testmode和scanenable对应什么情况的电路?
我们在做一般的muxed-DFF的dft设计的时候，是不是应该将mux的选通线定义为scanenable?还是定义为testmode?

scanenable, shift 的时候为1，capture 的时候为0