DFT问题求助!
时间:10-02
整理:3721RD
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第一次做DFT,遇到了一个clock问题和RAM的问题,,,不知道怎么分析,,希望路过大神指点一下。
aRst ( Warning: Clock aRst used as data is different than capture clock clk_24M for inputs CK/D of stable DFF (EDC_insert/state_reg_3_).
clk_24to96/FIFO_26_16_SRAM_26x16 (Cell clk_24to96/FIFO_26_16_SRAM_26x16 (SRAM_26x16) is unknown (black box) because functionality for output pin DAOUT[0] is bad or incomplete.
我man了一下这个问题,要求检查Design和specification,不知道是不是哪里设置问题,,,求指教。DFT时应该对RAM进行怎样的设计?~
aRst ( Warning: Clock aRst used as data is different than capture clock clk_24M for inputs CK/D of stable DFF (EDC_insert/state_reg_3_).
clk_24to96/FIFO_26_16_SRAM_26x16 (Cell clk_24to96/FIFO_26_16_SRAM_26x16 (SRAM_26x16) is unknown (black box) because functionality for output pin DAOUT[0] is bad or incomplete.
我man了一下这个问题,要求检查Design和specification,不知道是不是哪里设置问题,,,求指教。DFT时应该对RAM进行怎样的设计?~
1. Check 一下 RTL 和 script, normal funtion 的 clock 有没有被 test_clock control 到
2. RAM 本来就该设成 black box
DFT设计时,RAM是不是应该首先旁路设计?
谢谢,我的一地个问题已经解决是代码的问题
我还想问一下,设计中报出的这样的一个warning,是不是就说明这个端口不能够功能复用了?
Warning: Port 'aRst' cannot be used as a scan port. It has been previously inferred as an asynchronous signal
我们是利用一个函数将ram周围加了一圈的可观测点。
对。就像 scan clock 的输入端口也不能用作 scan port 一样。