关于DFT的问题？
我的想法是主时钟和scan clock为同一个时钟，scan_se为使能信号，scan_se=0为功能模式，scan_se=1为DFT模式
请问这样能实现吗 ?另外对于综合后DFT的 检测标准是什么呢?覆盖率除外。
谢谢！
不能用scan_se做为DFT模式选择！dft模式下面的测试项不止scan，比如还有mbist……
综合后的网表一般做一个dft的drc check（主要是针对scan）就可以了。
不是有at speed测试么，就是用func clock做scan clock啊，
大体上是可行的，
谢谢各位！此设计中只有DFT,没有mbist
所以就考虑不要TestMode。
再问下对于scan clock、scan_se是不是必须为IO，可不可以用内部的pin来代替！
大体可行，我们也是这么做的，function clock和scan clock大部分路径是一样的
如果只做scan测试感觉好像是可以的。
之前没有这么做过，请教两个个问题，麻烦帮忙解答一下：
寄存器se端是连接到scan_se上的吗?
stuck-at和transition测试capture时钟如何提供的?
寄存器se端是连接到scan_se上的，每个都要连上；
对于故障模型这个不是很懂，没有涉及到
stuck-at跟transition测试一个主要测固定fault另一个测时序方面的fault，主要区别在于capture时钟是低频的dft时钟还是at-speed的系统时钟。
如果se连接到scan_se上那shift时用dft时钟，capture时用at-speed的功能时钟，这种结构下面功能时钟是从端口直接给的吗?没有经过OCC吧?
做DFT的时候还要考虑功能时钟吗?好像不需要了吧！
你这么一说，感觉很多东西都不懂！
这种就是用 func clock来做测试， 和at speed类似
省一个clock input
小编可不可以具体讲下DFT工作时的时钟关系?也就是做DFT或则做PT时，哪些时钟需要，而哪些不需要
看模式啊，
set_case_analysis 选择mux的端啊，
各个模式下走各种时钟啊
要將你的func clk用做scan clk，除非你的func clk structure非常簡單，且易讓ATE控制.
Thanks...