DFT 问题

就是我们这里做DFT时候用单独的clock和function_clock用一个选择器连接起来。然后用scan-test选择，我不知道这样有什么好处

function clock不能测试到所有的FF，影响 fault-coverage

FF不都是clk沿触发的 吗?还有不能测试到的吗?而且test_clock 和function_clock在选择器之后的路径都是一样的阿！这样还存在测试不到的吗?
能说的更明白些吗?

如果function时钟是端口直接输入那肯定就没必要选择。
如果是片内时钟，比如PLL的输出。那你可以想一想scan的整个过程是怎么完成的，如果用功能时钟ATE知道这个时钟的状态吗，能计算这个时钟引起的电路状态变化吗?
比如要完成shift，用function时钟能把ATE给的值移到期望的寄存器吗?

除非很单一的同步时钟设计，很多情况下function clock是不满足test clock条件的。
比如有的设计是用时钟下沿打寄存器，不满足DFT test clock的。又如有的设计用了分频时钟（寄存器Q端输出）作局部时钟，也不满足DFT test clock等等还有不少情况。这些case都需要用到你说的mux在test mode下面把function clock在寄存器ck端替换成test clock。

学习了

学习了

照你这么说的话，是不是clk port，需要增加mux，选择system_clock还是dft_clock，是这样吗?求指教。

function clk架構過於複雜，很難完成scan chain shift
ATE也難以控制function clk，除非function clk用ATE外灌

讲得好

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你这问题乍一看以为你是问为什么scan cell的functional clock(也叫system_clock)和test_clock分开呢，一个scan cell如果用两个独立的functional clock和test clock来控制的话，那么只能说明是用户你自己选择scan style的问题，如果是普通常用的MUX-scan的话，寄存器的functional clock和test clock是同一个端口。如果你从时钟网络上问functional clock和test clock为什么有时不是同一个，那么bingling512和kevinht已经给你举了两个栗子为什么有时两个clock不相同。

thank you.