dft时的时序分析问题
时间:10-02
整理:3721RD
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Hi,大家好,
请教大家一个问题:
在做DC或者STA时,常看到别人的脚本里set_case_analysis 0 test_mode,set_case_analysis0scan_eanble,
这样就只分析芯片在正常工作模式下的时序,那芯片在DFT模式下的时序怎么保证呢?
是要把test_mode设set_case_analysis 为1再分析一次,
还是我们在开始时就不要把这些信号set_case_analysis为0?
谢谢大家了!
请教大家一个问题:
在做DC或者STA时,常看到别人的脚本里set_case_analysis 0 test_mode,set_case_analysis0scan_eanble,
这样就只分析芯片在正常工作模式下的时序,那芯片在DFT模式下的时序怎么保证呢?
是要把test_mode设set_case_analysis 为1再分析一次,
还是我们在开始时就不要把这些信号set_case_analysis为0?
谢谢大家了!
DFT模式下的timing一般都会用单独的模式(case设置)覆盖。其实对于at-speed测试,很多路径在function下面应该是可以覆盖的。
这个应该是有多个模式多工艺角(MMMC)下的分析,最后做到全部时序收敛
一般會切成好幾個SDC FILE
有normal mode 和 DFT mode的SDC FILE去做STA