有关DFT方面的问题，向大牛请教

刚接触DFT，有很多问题，向板上大牛们请教，使用mentor的工具进行扫描连插入，是多时
钟电路，因此会插一个锁存器，现在问题由于锁存器插入，那么现在电路在扫描时应该具
有时序特征了吧，那么是不是在使用fastscan生成test pattern时不能用默认的basic
pattern，而应该使用sequential pattern呢，我个人理解是。不知道理解对不对，请问大
牛，非常感谢。
另外是对整个电路进行DFT，那么就应该先生成BIST电路，重新综合后再进行scan chain
inserion吗?我理解是需要这样，要不BIST电路无法被覆盖。
初接触DFT，问题比较初级，请板上大人不吝赐教，非常感谢

你说的是logic bist啊?
很少用，如果是memory bist ，则和scanchain 没有先后顺序之分

就是mbist啊，我的意思是既然生成了bist电路，那么bist的主控状态机也已经综合进了电路了，如果不对这些电路进行扫描覆盖率就会低啊

不过这个问题已经搞清楚了，谢谢您的回答

有道理，应该是你说的那样吧，先mbist，然后scan chain，

个人认为mbist那些触发器可以不串入scan中，因为实际测试mbist的时候相当于做了一个function的功能