芯片dft测试时，生成两个pattern对应失效点不一致

[求助]芯片dft测试时，生成两个pattern对应失效点不一致
pattern1失效的有一些用pattern2再测时候pass了
同时也有pattern1 pass的用pattern2再测时候fail了

有些x的状态应该明确状态

首先你先確認tool 做的正確
其次這種情況是可能的，每隻pattern 的coverage 是不一樣的