请教65nm LP 工艺下inverter的耐压问题
时间:12-12
整理:3721RD
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在tsmc 65nm LP下设计一个inverter(用最小沟道长度65nm,管子采用低压管),理论上这个inverter电源电压是1.2V
(1)如果这个inverter静态使用,就是它的输入电压要么是vdd,要么是0, 请问电源电压可以超过2.5V吗?
(2)如果这个inverter作为clk buffer使用(Fclk=80MHz), 请问电源电压可以超过2.5V吗?
我看了一个厂家心片的版图,采用65nm 工艺,它用L=65nm的管子做inverter,但通过前后电路分析感觉它的电源好象是2.5V,不是1.2V, 请问实际中可以这样吗?
谢谢大家
(1)如果这个inverter静态使用,就是它的输入电压要么是vdd,要么是0, 请问电源电压可以超过2.5V吗?
(2)如果这个inverter作为clk buffer使用(Fclk=80MHz), 请问电源电压可以超过2.5V吗?
我看了一个厂家心片的版图,采用65nm 工艺,它用L=65nm的管子做inverter,但通过前后电路分析感觉它的电源好象是2.5V,不是1.2V, 请问实际中可以这样吗?
谢谢大家
65nm是有2.5V器件, 但是我看的哪个芯片他是L=65nm管子来做inverter的。L=65nm的管子应该是1.2V器件,不会是2.5V器件吧? 有可能2.5V器件管子L=65nm吗?
但是实际中那个厂家的芯片中L=65nm inverter电源应该是远远超过1.2V,估计是2.5V,所以比较疑惑呀
对于 TSMC LP 我不太确定
对于 ST 65nm LP,如果vdd 到 1.5V就有一些问题,这个我们实际芯片测试到过。
好象没有可能L=65nm器件是2.5V器件吧,好象2.5V器件的L最小要0.3um
也可也不可,取决于TDDB,AMR,BTI,HCI 导致的reliability 是不是可接受。
不一定,我曾经让65nm的设计工作在2.5V,短时间内没问题,当然是debug,不是正常状态...
(1)寿命问题,aging有专门的model
(2)hot carrier effect
(3)DIBL~~
总之,最好别这么干
三个方法:
1.把size,voltagewaveform发给TSMC,几天后见结果;
2.根据designrule手算;
3.如有aging model和工具,一跑便知;