请问RF CMOS工艺中的MIM电容是否存在寄生下极板电容
时间:12-11
整理:3721RD
点击:
☆─────────────────────────────────────☆
nobomb (真的不是炸弹) 于 (Fri Aug 10 09:40:19 2007) 提到:
一般工艺中的PIP(两层poly做的电容),存在其下极板与衬底之间的电容。
那么MIM(两层金属构成的电容),其下极板时候也存在此类问题。这在后仿真中能否体
现出来?
☆─────────────────────────────────────☆
seaskyyuhan (海天一色) 于 (Fri Aug 10 10:14:32 2007) 提到:
肯定存在,下底板与substrate之间的电容。后仿真可以体现,但不准确。设计中应该予以考虑。
nobomb (真的不是炸弹) 于 (Fri Aug 10 09:40:19 2007) 提到:
一般工艺中的PIP(两层poly做的电容),存在其下极板与衬底之间的电容。
那么MIM(两层金属构成的电容),其下极板时候也存在此类问题。这在后仿真中能否体
现出来?
☆─────────────────────────────────────☆
seaskyyuhan (海天一色) 于 (Fri Aug 10 10:14:32 2007) 提到:
肯定存在,下底板与substrate之间的电容。后仿真可以体现,但不准确。设计中应该予以考虑。
这个寄生是在model里已经考虑,还是在后仿时提,各个foundry有不同的做法,
但重复提了两遍肯定是不对的。可能是bug。