DFT时对黑盒单元怎么处理，有这方面经验的进来交流下

时间：10-02 整理：3721RD 点击：

本人新学DFT，对我们的设计插入扫描链，但是对黑盒单元（ROM和SRAM）没有什么处理，只是设了dont_touch属性，
之后用TeTraMAX进行测试向量生成，测试覆盖率和故障覆盖率都在91%左右，报了一下详细的故障单元，发现AU（ATPG untestable）
的单元中有很多是黑盒单元输出路径上的，因此很疑惑到底有没有什么方法可以改善，希望有这方面经验的能指导一下。

对于rom sram这样的macro，bypass就好了，也就是他的输入信号经过mux 进入到memory输出所接的触发器。

memory是放在bist逻辑中测试的，dft可以不保证memory的测试。

谢谢！bypass是在RTL代码中手动添加还是在综合时使用命令添加?

用寄存器实现的方法替换sram，然后跑atpg，这样会不会提高覆盖率呢?

这个没试过，可能会提高。不过这样做有意义吗?

请问你这个问题解决没有啊，如果绕过黑盒子啊，求告知具体命令和方式

同问，我知道如果加入MBIST，则bypass是在做MBIST时工具自动添加的，但是如果不做MBIST，那么memory的bypass是在RTL阶段添加，还是在综合的时候，工具自动添加，还是在综合完成之后，在网表中手动添加?

手动

dont touch了，91%就是把他们排除了的吧，应该是别的地方有些东西没串进去

请问一下
我有晶振和flash两个黑盒子，现在dft_drc的时候也都出现错误（Cell has unknown model），我现在是需要手动到网表中添加mux将这两个模块给bypass吗?还需要做其他处理吗?
是不是因为黑盒子的时钟导致的呢?

哎，没信元额。

在synthesis時直接加wrapper

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