DFT分模块scan

请问一个顶层包含两个模块A和B，为了降低测试功耗，怎么分开做scan?假如有两个控制信号test_mode1和test_mode2
是用multiple test mode 还是 partition?
以及TMAX时怎样生成pattern,是同一个还是分成两个?
最好谁有个分模块scan的脚本参考一下，感谢感谢

顶顶，求人解答～