有个关于scan的问题，想请教

芯片出来SCAN测试fail，AC,DC都不行。
后仿是at-speed，low-speed都过的，不管是Internal-Scan还是Compressed-Scan，谢谢！
问题更新：
现在只测试low-speed, internal-scan.发现测试频率要降到很低才能过：目标30MHz fail，100KHz的时候部分芯片能过，30KHz的时候才能稳定的pass。各位大神帮忙看看可能哪个环节会出问题。
根据目前的信息，个人感觉也不太像timing的问题，正常timing问题，不需要降这么夸张吧?

我是新手一枚，打打酱油的
看你的描述，如果不是timing的问题，为什么30K的时候能过呢?
你说的internal scan，是指DFT的stuck at测试吗?

我也是打酱油的新手，请问用的什么工艺，工艺是否silicon和仿真correlation较好?

我也是没经验，所以猜测。
internal scan 就是没有压缩的那种scan 模式。

GF55工艺。