测试模式下sdc约束
时间：10-02
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请教各位大侠， 测试模式（DFT）下的sdc该怎么编写，根据什么来写，和功能模式下的写法类似吗?
就是clock ，周期等， 主要是检查hold time
谢小编的答复。那就是把功能时钟换成测试时钟，其他的和功能模式下都一样?