DFT/Mentor/Testkompress/ATPG violation D5 问题求教
时间：10-02
整理：3721RD
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开始atpg阶段前DRC结果发现D5 vio有很多！具体是发现很多本应该是scan cell 但在shift/capture阶段被认为是non-scan cell，状态不可控
用DFTVisualizer打开分析，比如看到一个D5的位置是一个标准的scan chain上的cell，它在shift模式下scan in data居然是X，于是我trace这个x，最后发现是从scan input(PI)来的。我觉得很冤啊有没有，我可能做错什么工具为什么会这样呢?
所有chain的trace都是通的，pattern也仍然可以生成，但是只在92%左右。
有人遇到类似问题吗?
有人吗?自沙