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TSMC28工艺的PERC中关于电阻的问题。

时间:10-02 整理:3721RD 点击:
I/O pad下面diode到电源clamp之间连线电阻过大怎么解决,并且它是怎么计算阻值的?求助。

个人看法,可以尝试将多层金属线通过通孔,形成之间的连接线,相当于多个阻值并联,可以达到降低阻值的效果

计算阻值请参考公式R=(L/W)x R口
其中L和W分别为跑线的长度和宽度,R口为对应跑线metal的方块值,这个值得大小请查fab提供的design rule文件,xrc的pex文件里边可能也有。
如果不是一层metal叠加,需要计算并联电阻。

多叠金属多打空

麻烦请问一下你使用perc 查t28的esd问题是基于芯片级还是IP?我现在遇见一个问题,我基于芯片级查esd,发现工具会把每一个std都查一遍,且会报没有电阻的问题,不知道你是否遇见过类似的问题?

理论上是基于芯片级的实际perc的rule有通查,同时也会check单个pad的ESD和LUP rule

尴尬的是我发现不仅查了pad,连core区域的dcap cell也查了,就会报很多No resistor isused的error!寻遍所有的rule也没有找到一个option是控制不查cell的

根据你的描述, 这个问题产生的原因或许是在查ESD二级保护的一个200欧母的电阻?

对的,现在工具认为这个cell需要这个电阻,但实际上这是一个std cell,根本不需要检查

理论上ESD结构是需要这个电阻的,如果manager不能waive,可以std cell外加上电阻再接进去

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