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请问版图顶层PIN的问题

时间:10-02 整理:3721RD 点击:
如题,请问大家,在顶层版图中有的PIN是通过PAD接到外面的引脚的,但还有很多PIN是只接到PAD上,没有接到封装后的引脚的,这些是做什么用的啊?而且在顶层布线是对于这两种不同的PIN有什么不同的考虑吗?谢谢大家指教!

可能是一些备用的PAD,用来满足封装的多样性和功能上的多种选择性。

连接了PIN但没有引封装引脚的PAD可能是备用或用于芯片测试,它并不需要接外部引脚。
也有两个pin连到一个PAD引出的,比如VCC,GND。要是有空间你可以给它两个pin,但这两个pin是连到一个外部PAD,也就是一个引脚。
至于顶层布线对这两种pin的考虑,我想应该给予同等待遇吧。

继续请问一下:那都封装了,测试的时候又怎么可以接到没出线的PIN啊。

不一定要等到封装了才测试啊,很多公司会先自测裸片的,自己邦定

5楼说得对,如果存在没有引出的pin,那么一般都是公司自己在裸片上测试。当然,封装后,就是对有引脚的PIN,也就是整个芯片进行功能、参数测试了。

哦,这样的啊。我今天问了一下公司的人,他们说没接金线的PIN是都要接到一起的,然后接到共同的地。?请指教

正常的PIN是Bonding出来的,是从外部封装可以看到的,从产品Datasheet上可以看到明确定义的。
而芯片上还有些没有Bonding出来的PIN,就根据设计可的用途自己定义了。有多种用途,一般情况下:
1. 满足不同封装要求。有些产品有不同封装要求,封装管脚顺序不兼容,就要将Bonding时交叉的PIN多做一个,实现不同封装要求。
2. CP测试和Trimming PIN。实现电路微调和加速测试用。
3. 测试用。用于产品Debug分析,看内部的信号是否存在问题,这种情况一般会做成很小的Probe PAD。
4. 实现多款不同规格的产品。
但有一点要注意,如果预留的PIN是输入PIN,就不能悬空,要接到固定电位上,比如VSS或VDD,或在内部做上拉电阻或下拉电阻。

小编说的肯定是probe pad,做测试用的

8#说的很详细



请问,什么是probe pad啊,

探针卡

对的,用实验室的探针台可以直接测试裸片上的pin

同问,这些pin是这么看的呢

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