请教： test coverage analysis without scan

我们做scan 测试的时候会报一个测试覆盖率。
当数字逻辑特别少的时候，我们一般只进行功能测试，我记得以前有过一个工具可以
从功能测试时候的仿真波形推算测试覆盖率来着，虽然这个测试覆盖率一般比较低。
这个流程是怎么做的，用什么tools？哪位大侠帮忙解惑一下？多谢

作为function pattern读入，会统计出coverage 出来。
大致步骤如下：
  1）. 用仿真工具，生成 .evcd 文件，注意不是 VCD格式，是EVCD，nc-verilog可以做，需设定参数，请参阅文档
  2）. 在TetraMax中，读入 evcd文件，run fault sim.就会帮你统计
  
  具体可参考Tetra Max 文档

不过这个方法不算准的，因为Tmax设计时这部分功能做的较弱，bug也很多

Tmax，不过好像没更新新版本了？或者换名字了？