monteCarlo仿真能代替corner么

   monte carlo仿真可能就是仿真量比较大
  但是corner仿真各种器件的corner组合，数量也不会太小
  
  monte carlo应该更能反映电路的实际性能
  

我觉得corner其实就是monte carlo统计的边际结果（比如3sigma)，monte carlo可以反映corner出现的概率
monte carlo还有mismatch，corner是cover不到的

如果是mismatch+process，而且sample足够多，而且model的分布准确的话，应该cover的住

另外在40nm以下的工艺，其mismatch还分global mismatch和local mismatch呢
前者是以all-tt为中心，而后者不是

如果mc仿真次数够多，理论上是可以取代corner的，这样理论上可以更现实的估计yield。不过现实中似乎没人这么做...
不过要仿真到参数变化的极限，需要仿真的次数很多，据说用LHS算法可以减少需要仿真的次数

all-tt是什么意思？可以理解为仿真的时候不考虑器件corner，直接以tt为中心做波动？

是的，本来的monte carlo不就是这样么
但是40nm以下把这个定义为global mismatch，还再加了一个可以偏离tt的点做为中心