FT 测试 at-speed scan fail

请问有大神指导，这种情况，应该往哪些方面去查原因么?
后仿是at-speed，low-speed都过的，不管是Internal-Scan还是Compressed-Scan，谢谢！
问题更新：
现在只测试low-speed, internal-scan.发现测试频率要降到很低才能过：目标30MHz fail，100KHz的时候部分芯片能过，30KHz的时候才能稳定的pass。各位大神帮忙看看可能哪个环节会出问题。
根据目前的信息，个人感觉也不太像timing的问题，正常timing问题，不需要降这么夸张吧?

求助，望大神帮忙谢谢了

At speed -> decrease speed step by step-> get highest speed for testing pass
shmoo clock to data (setup and hold time)-> set the central timing on pass window-> increase testing speed

谢谢答复！

顶上去，盼回复

遇到过类似的情况，
你看看能否对IC数字电路逻辑稍微加压试一下?

谢谢，我bist测试是正常的。就scan不行。2种测试用的电压一样。

按照我的理解，Bist一般针对的是PHY，针对的是部分电路，而，scan，若只有一种scan_mode，针对的是所有串上scan的电路，针对的是绝大多数字电路，
量级不一样哦~

仿真OK，基本可以说明逻辑没有问题，
那么问题无非就是出在逻辑电路的周边环境，
与之相连的Analog输出，供电等最有可能，
所以想着可以的话，尝试对core电压，稍微提高试一试~
--若可控的话

    谢谢，可是TE加了电压后，结果还是老样子

2楼说的好啊，这种时候一定要做shmoo搜集信息
scan clock使用的pad支持30MHz翻转亦或是这个pad需要配置?
低频能过一般不可能是hold问题，那么setup会出严重问题的话，还是scan clock和scan_en比较可疑。spef抽取的结果也可疑。也许你后仿的反标有假，当时反标的warning也要再看看。
升降温试过吗?

    升降温倒是没试过，加压测试试过，情况一样。现在是在逐步往前移，看之前的log。不太愿意看到真有问题啊。