DFT-ATPG 怎么产生有don't care bits的test pattern?
时间:10-02
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我想对ISCAS‘89 benchmark产生含有x(don't care bit)的test pattern。我用Fastscan是不行的,因为根据它的Process Guide, Fastscan会自动compact test patterns. 我还试了ATALANTA, 它可以产生带x的pattern, 但是那是“ n test patterns for each fault (n>=1) ”,因此数量巨大!我该怎么样才能产生数量不大,但又含有x的pattern呢?
谢谢了!
谢谢了!
我一般都不设计don't care bit.你不是做FPGA吧?是做ASIC的?
你这是ASIC的?
嗯,是做DFT(Design for Testability)的,有什么法子么?求教。
有专门的add false path指令在tetraMAX里面,保证让你满意
不知道算不算挖坟。还是写出来给需要的人参考:
ATALANTA选项:
-A
诊断模式
Atalanta为每个故障产生所有的测试模式。
在这个选项中,所有的未指定的输入都未知,故障模拟也没执行。
-D n 诊断模式
Atalanta为每个故障产生n个测试模式
依照小编的要求,可以用-D 1来产生激励,附上s27结果:
- * Name of circuit: s27.scan
- * Primary inputs :
- G0 G1 G2 G3 G5 G6 G7
-
- * Primary outputs:
- G17 G10 G11_EXTRA G13
- * Test patterns and fault free responses:
- G13 /0
- 1: x10xxxx xxx1
- G2 /0
- 1: x11xxxx xxx0
- G12->G13 /0
- 1: x00xxx0 xxx0
- G13 /1
- 1: xx1xxxx xxx0
- G11_EXTRA /1
- 1: xxxx1xx 1x0x
- G11_EXTRA /0
- 1: x0x10x0 0010
- G10 /0
- 1: 1xxx1xx 110x
- G11->G10 /0
- 1: 10x10x0 0010
- G14->G10 /0
- 1: 0xxx1xx 100x
- G10 /1
- 1: 0xxxxxx x0xx
- G12 /0
- 1: x00xxx0 xxx0
- G1 /0
- 1: x10xxx0 xxx1
- G7 /0
- 1: x00xxx1 xxx1
- G12 /1
- 1: x10xxxx xxx1
- G14 /0
- 1: 0xxx1xx 100x
- G14 /1
- 1: 1xxx1xx 110x
- G6 /1
- 1: 01x100x 100x
- G8 /0
- 1: 01x101x 001x
- G14->G8 /1
- 1: 11x101x 110x
- G8 /1
- 1: x1x100x 1x0x
- G16 /1
- 1: x0x0000 1x00
- G15 /1
- 1: x1x100x 1x0x
- G9 /0
- 1: xxx000x 1x0x
- G11 /0
- 1: x0x10x0 0x10
- G5 /0
- 1: x0x11x0 1x00
- G3 /0
- 1: x0x1000 0x10
- G8->G16 /0
- 1: 0xx001x 001x
- G8->G15 /0
- 1: 01xx01x 001x
- G12->G15 /0
- 1: x0x1000 0x10
- G11 /1
- 1: xxxx1xx 1x0x
- G17 /0
- 1: xxxx1xx 1x0x
- G17 /1
- 1: x0x10x0 0010
你好,对于采用ATALANAT ATPG工具产生ITC’99大电路测试向量怎么设置呢?比如b17-b22,我每次用都会报错,好像溢出了。求助哈
