基于DDS与MCU的运算放大器参数测量系统设计

系统测试表明，VIO、IIO、AVD测量精度主要取决于集成运放输入电阻、反馈电阻的精度，保证运放的两个输入端口外接等效电阻平衡可减小测量误差。KCMR的测量误差主要是由于外界的电磁干扰、电源纹波、工频干扰、传输网络不对称，以及地电位不统一引起的串模干扰。通过单点接地、低通滤波、电源滤波，以及选取精度高的电阻可减小KCMR的测量误差。

结语

测量仪表系统程控化、智能化是现代电了测量技术的发展方向，本设计实践了这种思想，利用微控制器实现伞程数控，运用可编程DDS芯片构建高精度扫频信号源。测试结果表明该系统能够智能化地测量集成运放的5项参数，切换灵敏、时延小，测量精度较以往的测量方法更为精确，具有较高的性价比。本文提供的设计方法对于常规测量仪表的设计也具有一定的参考价值。