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Xilinx FPGA入门连载38:SRAM读写测试之设计概述

时间:12-18 来源:互联网 点击:
Xilinx FPGA入门连载40:SRAM读写测试之设计概述

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配套例程和更多资料下载链接:

http://pan.baidu.com/s/1jGjAhEm


1 功能简介

         如图所示,本实例每秒钟定时进行一个SRAM地址的读和写操作。读写数据比对后,通过D2 LED状态进行指示。与此同时,也可以通过chipscope pro在ISE中查看当前操作的SRAM读写时序。


2 模块划分

         该实例的工程模块划分层次如图所示。


●  Sp6.v是顶层模块,主要完成各个子模块例化、相互接口的互联。

●  Pll_controller.v模块是IP核,例化PLL功能完成时钟的倍频、分频管理。

●  Test_timing.v模块产生SRAM的遍历读写请求,比对写入和读出的SRAM值是否一致,结果赋值给LED指示灯。

●  Chipscope_debug.cdc模块引出设计模块内部信号,在chipscope下可以在线观察SRAM的读写时序。


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