flow里为啥先是mbist，再syn，再scan，再dft,再atpg？

bist 也可以放到scan后面的，不过为了增加覆盖率，通常可以放到syn与 scan之间，
至于dft atpg 自然是前后顺序了，一个是架构好scan，把链串接起来，另外一个是基于串接好的scan chain来产生相应的pattern

这个问题好，同问！

mbist可以在syn后做呀，但为了更好的看出设计覆盖率情况，建议还是在RTL级做，必须先做DFT,然后ATPG。

mbist的bist wrapper 也将是scan的测试对象，可以提高测试覆盖率

dddddddd

是的,有的时候对生成的mbist电路中的逻辑我们也希望去测试，所以先生成mbist电路。接着在syn和scan insertion成门级，之后有了scan后才能进行ATPG了。

syn是什么?
scan是指插入scan chain吗?

请问为什么放在RTL可以“更好的看出设计覆盖率”?我们是综合后做的mbist

syn 指的是synthesis 意为综合 逻辑综合logic synthesis
scan 此时指的不是scan chain

可以适当调整的，不是绝对的

正解阿，多谢

用于测试的BIST电路本身，也是可以做scan测试的，所以就先mbist再dc/dft

scan一般是怎么做的

xueixle

个人认为在RTL阶段并行做mbist从流程上可以节省时间，因为复杂的设计中mbist需要做好功耗分析和时间平衡，这个过程也需要不少时间。

BIST没有什么前置条件，可以先做，另外就是上面说的可以提高测试覆盖。