插入扫描链时如何处理ROM、RAM、ARM等模块

1、用DFT compiler插入扫描链时，ROM RAM ARM等模块需要作特殊处理吗?
放着不管会有问题吗?
2、用TMax作ATPG，生成的STIL文档中有X状态，会有什么问题吗?
3、做扫描仿真时，遇到时序问题该如何解决（用DC综合时没有时序问题）

这是困扰很久的问题，希望大家给点意见

同问,
DC不也可以做DFT吗?

1 Ram and ROm are treated as black boxes
You don't have to do anything.
If you like to have high coverage, you have to build the wrapper for them to get good coveage.
2. X in STIL is normal, nothing wrong about that.
3. ATPG don't care the timing issue.
Without SDF, you have to make sure all combitional logic are 0 delay and have seqential cell with some delay to check the ATPG pattern.

学习了。

真的非常感谢juniper14211

再问下：
1、check the ATPG pattern有没有反标SDF文件都有问题
2、不知道如何保证组合逻辑延时为0
3、扫描时钟和别的多个时钟复用，扫描时钟不好平衡，怎么处理好些

这几天也一直被这个问题困惑着，今天终于解决了，谢谢juniper14211提供的建议……

3# juniper14211
ROM RAM不用管

那么其他IP呢?比如说USB、AFE、PLL、LVDS等?

受教了

解答的非常好謝謝誒

Hard macro最好都bypass。
要不然做scan的时候它们端口信号翻转（包括时钟）产生的动态功耗很烦人。

向juniper14211 学习

受教了

请问pad在DFT综合时是不是也不做处理呀?怎样将其bypass呀?

受教了

如何设置black box呢?