DFT测试覆盖率提高的疑问
时间：10-02
整理：3721RD
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请教各位大神，为了使scanrst能把所有触发器串起来，设计中多次使用rst_out = ASIC_TEST? rst_scan : Rstn；如图所示，
但是这样影响了测试覆盖率，扫描模式下，ASIC_TEST常为1，产生许多相关的atpg_untestable，请问有什么方法能消除这些AN吗?
一是不明白 rst 为什么要有两个
二是不明白 rst_out 为什么不是全局的
这种是没有办法的，可以把它们当作已经检测到进行分析
搜一下这个：“在设计中遵循DFT规则，提高错误检测覆盖率”
谢谢回复， 我再描述的详细一些，对复位信号的选择如下图所示， 