functional sdc和test sdc都是怎么得到的？
时间：10-02
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产生functional sdc的时候，是不是加入SCANDEF了?
产生test sdc的时候，是不是做好chain了?
这个地方还有点迷惑，请求支援！
做完test scaninsertion，才有scandef能写出来，
才能写test sdc
不做test scan chain insertion或别的test操作 ， function 下是没有test mode的，
也就是说functional的时候没有scan 单元?