mbsit 测试功耗问题

memory已经按controlor进行了分组，而这些controllor可以独立配置是否启动测试，即在一次测试中可以任意选择某一个，某几个或者全部controllor同时启动进行测试。
问题是：
如果同时启动mbist测试的memory太多，由于不仅支持at-speed测试，而且还支持full-sped测试，因此测试功耗可能非常大，因此可能造成过杀影响良率。
如果同时启动mbist测试的memory太少，则有可能拆分得过于乐观，从而出现测试pass的芯片在实际使用时fail。
不知道大家在实际测试时有什么好的办法来解决这个问题呢?

the best way is to calculate power / irdrop to try different scheme so find out which way your design can tolerant

谢谢楼上的回复。目前我们也是采用的类似这种做法，但是由于拆分向量太多，而且要不断调整尝试，同时功耗分析还需要对不同的corner进行，因此这种方法引入的工作量非常大。

自己再顶一下，看看有没有更好的方法。