微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 研发问答 > 微电子和IC设计 > IC后端设计交流 > 怎样避免少用scanchain与数据复用?

怎样避免少用scanchain与数据复用?

时间:10-02 整理:3721RD 点击:
最近做了个实验,发现DC综合出的schain数据和reg都是复用同一个reg的Q端,
另外一个QN就是空着没用,这样这条路径一定会有hold违反,而encounter好象
对分支路径的hold优化能力不强,能用什么命令控制如:数据用reg的Q那么SI就用reg的QN
这样避免少复用,有利于hold优化.

先回答你的问题:
set test_disable_find_best_scan_out false
再讨论:
为什么说“schain数据和reg都是复用同一个reg的Q端,这样这条路径一定会有hold违反”?
scan和data共用Q端时,如果两个path都有hold违反的话,插入一个delay不就解决两个违反。

陈小编解释的真好啊,明白了

这个道理我明白,只是怎么让工具明白要加delay cell 的timing arc 支路。

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top