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问下,In-Rush current到底有什么坏处

时间:10-02 整理:3721RD 点击:
在power gating的设计中,
一般要求off到on的过程中 , 所有开关依次打开,比如用dasiy-chain方式,
来避免rush current的一次性太大的冲击,

请问这个到底有啥影响,比如烧毁电路, 造成芯片电压波动较大? 这只是个瞬间时刻啊,
稳定下来就好了,
还有:on到off的时候,是不是也考虑开关的一些问题,比如是依次关闭还是 尽量全关闭, 等等

on到off的时候貌似不用管
电压波动大虽然是瞬间的事情,但是别的module在正常工作的时候来那么一下,估计这个chip会挂

off to on,如果switch全部打开,貌似对地的等效电阻大大的降低,那么电流大大的增加,芯片大大的危险
个人意见,谨慎参考

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