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关于ESD电流泄放问题请教

时间:10-02 整理:3721RD 点击:
如题,ESD防护简单来说是否就是找一条通路将ESD引起的电流泄放到地(GND)上?引导到VCC上的电流实际也是泄放到地(GND)上的?
如果,电路中有高于VCC的电压或者有低于GND的电压,是否还是将电流引导泄放到GND上?
如果,衬底电压不是GND,那大电流进入SUB后是否需要将电流引导到GND上?
由latchup引起的电流是否也可以这样思考?

自己顶顶顶

(eWiley) ESD in Silicon Integrated Circuits (2nd Ed.)
想了解的话可以看看这本书

第一个问题:电地间通过clamp泄放
第二个问题:不能说是引到gnd上,应该说是引到gnd的pad上
第三个问题:同上

很感谢

•关于第一个问题,以HBM为例,ESD会产生于任意两个Pin之间,所以ESD防护的原则是任意两个Pin发生ESD时,ESD电流都能够找到通路泻放掉,那么这个通路有可能是内部电路也有可能是ESD网络,所以ESD防护需要让ESD电流从ESD网络泻放掉,否则内部器件将会被ESD电流损伤。在HBM测试中,有6种测试模式,分别是PD(i/o to VDD +), ND(i/o to VDD -),PS(i/o to vss +), NS(i/o to vss -), i/o to i/o(+/-),在这6种测试模式中,参考电位是变换的,同时在放电端施加正向或者负向脉冲,所以对于ESD防护而言没有哪个是真正的地,因为任何一个Pin都会被选作参考电位或者放电端。
•关于第二个问题,ESD防护架构有很多种,既要保证任意两个pin之间有电流泻放通路,同时还要保证正常工作状态下不发生PN结正偏现象
•第三个问题如果电路允许,可以将ESD bus连接至sub,然后所有的PAD都对这个bus放电
•第四个问题Latchup测试模式和ESD测试模式不一样,所以不能和ESD同样看待,Latchup防护对于layout来说可以通过增大P+/N+spacing, 插入guardring, 使用well隔离等方式实现防护作用
•欢迎讨论Latchup测试方法和防护问题
•拙见而已,欢迎指正

学习了

非常感谢

非常感谢,学了了!~

学习了

學習一下非常感謝!

十分详尽,学习了!谢谢!

非常感谢

小编好问个问题~希望您能看到,能指点一下就更好了~我的问题是这样的~
同样一个NPN,在作为ESD保护电路时,下面哪种连接方式电流能力强?还有就是发射极作为PAD时,ESD工作原理是怎样的,TLP曲线会不会有“骤回区”?谢谢~希望您能回复一下~十分感谢!


学习中

个人觉得发射集面积相对比较小(当然你也可以画大),可能对ESD会有影响。不过第二张图PAD接正电位的时候会順偏漏电哦!

markmark

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