ESD失效实例，分析与解决

版图上的技巧，fab 的design rule 上都有交待，特别是tsmc 的文件，大部分都说明的很清楚。
至于失效案例，你可以读一下底下这篇论文 :
"ESD failure mechanisms of analog I/O cells in 0.18-μm CMOS technology"
Ming-Dou Ker .etc.
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability.
Year: 2006, Volume: 6, Issue: 1
Pages: 102 - 111, DOI: 10.1109/TDMR.2006.871414
Cited by: Papers (7)

多看paper多做片子，呵呵

谢谢你的回答
不过有一个问题想问一下，你说到的那份论文我已经看到，其中最开始就说到的positive-to-VSS(PS-mode) or the negative-to-VDD (ND-mode)，想问一下是什么，能不能麻烦你说明一下，这个地方不明白

把基础知识多看看。