请教scan chain里面有INV的问题
时间:12-12
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ATPG tool现在都支持这种情况
没问题,你看都是QN输出后面插入的INV,这样scan chain的输入和输出才能相同。
scan cell就是 SI Q或者SI QN的寄存器
标准的
好的,谢啦
thx
恩,我刚刚hack了一下,寄存器的延迟做了一把前仿真
没问题
你的这种情况,主要是因为function mode下,reg之间只有简单的inv或者buf, insert_scan 利用了这个特征,复用了D端作为SI, 避免把正常的reg换成 带SI 的寄存器
为了保持function mode下的正常功能,这种连接的scan chain是不能做scan reorder的,所以会有 ” + ORDERED ”的约束
+ ORDERED chip_core_inst/xxx/u_xxx_core_u_xxx_abcde_lsfr1_reg_reg_11_ ( IN SI ) ( OUT QN )
chip_core_inst/xxx/U19332 ( IN I ) ( OUT Z )
chip_core_inst/xxx/U52521 ( IN C2 ) ( OUT ZN )
chip_core_inst/xxx/u_xxx_core_u_xxx_abcde_lsfr1_reg_reg_10_ ( IN D ) ( OUT QN )
.66
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