Re: 请问“scan chain”的定义和用法？好像是后端才用

综合的时候，用带scan的触发器替换原来的触发器。
在P&R的时候，工具会把各个scan触发器串在一块，连接在芯片的端口上。
芯片在检测的时候，可以根据相应的测试向量，检测相应的结果是否正确，
从而电路是否正常工作，或者说是否有生产缺陷。
Design Compiler综合的时候加上
compile -scan就可以了
不知道说得对不对，请指正，呵呵
.1

……
scan chain 的目的是为了增加芯片的在测试时候的可控制点和可观察点，从而提高芯片的test coverage。
通常来说，它的组成由被替换成带mux的scan register,并依次相连，这样可以减少PAD的数量；而为了减少测试时间，通常需要对这些scan chain做scan compression/decompression.对于DC或Kcompressor做出的压缩电路而已，降低覆盖率不是很多。