一个ATE测试中遇到的问题
时间：12-12
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Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 于 (Tue Jun 15 07:47:49 2010) 提到:
scan跑了1000组scan pattern
其中部分chip的一条scan chain会在固定的cycle报错
请问这是什么原因造成的啊？
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vimer (啊！) 于 (Tue Jun 15 08:23:47 2010) 提到:
去查下该chain的rpt看是哪个寄存器。这个寄存器的后沿电路
1 该cycle对应的寄存器出错？这个在对chain测试的时候就能确定
2 给该寄存器值的电路部分有错？
很少上ate，我只是推断2的可能性大。
【 在 Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 的大作中提到: 】
: scan跑了1000组scan pattern
: 其中部分chip的一条scan chain会在固定的cycle报错
: 请问这是什么原因造成的啊？
: ...................
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Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 于 (Tue Jun 15 09:08:30 2010) 提到:
跑了1000组pattern
其中只有几十组出现了error
而且是单个cycle的error
并不是每组pattern都出错的啊
【 在 vimer (啊！) 的大作中提到: 】
去查下该chain的rpt看是哪个寄存器。这个寄存器的后沿电路
1 该cycle对应的寄存器出错？这个在对chain测试的时候就能确定
2 给该寄存器值的电路部分有错？
很少上ate，我只是推断2的可能性大。
【 在 Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 的大作中提到: 】
: scan跑了1000组scan pattern
: 其中部分chip的一条scan chain会在固定的cycle报错
: 请问这是什么原因造成的啊？
: ...................
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aromatic (aromatic) 于 (Tue Jun 15 13:53:40 2010) 提到:
需要分析那几时组出现error是如何造成的
分析一下是哪些cell导致的
或许就是设计上的问题，也可能是制造问题
【 在 Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 的大作中提到: 】
: 跑了1000组pattern
: 其中只有几十组出现了error
: 而且是单个cycle的error
: ...................
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pizzafool ( ) 于 (Tue Jun 15 16:45:50 2010) 提到:
看一看波形先
如果不是timing的问题
就做Yield analysis试试
你们用的啥工具
【 在 Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 的大作中提到: 】
: scan跑了1000组scan pattern
: 其中部分chip的一条scan chain会在固定的cycle报错
: 请问这是什么原因造成的啊？
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Apatriot (翔) 于 (Wed Jun 16 07:11:45 2010) 提到:
fail的chain上fail的cycle固定吗？
【 在 Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 的大作中提到: 】
: scan跑了1000组scan pattern
: 其中部分chip的一条scan chain会在固定的cycle报错
: 请问这是什么原因造成的啊？
: ...................
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landk (Sonic) 于 (Wed Jun 16 22:11:29 2010) 提到:
先与好的片子对比做一些timing和level的shmoo，如果是pass window小了可以先查查是否
同一个lot的wafer，如果是相同wafer看看失效芯片是不是处在wafer边缘
如果是solid fail，可以先看看失效比例；如果比例较大可以通知foundry协助做PFA进行
分析
【 在 Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 的大作中提到: 】
: scan跑了1000组scan pattern
: 其中部分chip的一条scan chain会在固定的cycle报错
: 请问这是什么原因造成的啊？
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Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 于 (Thu Jun 17 08:47:34 2010) 提到:
用什么工具来分析是哪些cell造成的呢？
东西是我们买过来的
所以我们只能通过对方给制造厂的文件来提取网表文件进行分析
他们以前给我们的scan pattern是错误的
我们只是用他们提供的激励在逻辑分析仪上采集数据作为正确的输出
【 在 aromatic (aromatic) 的大作中提到: 】
需要分析那几时组出现error是如何造成的
分析一下是哪些cell导致的
或许就是设计上的问题，也可能是制造问题
【 在 Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 的大作中提到: 】
: 跑了1000组pattern
: 其中只有几十组出现了error
: 而且是单个cycle的error
: ...................
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Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 于 (Thu Jun 17 08:48:02 2010) 提到:
是固定的
【 在 Apatriot (翔) 的大作中提到: 】
fail的chain上fail的cycle固定吗？
【 在 Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 的大作中提到: 】
: scan跑了1000组scan pattern
: 其中部分chip的一条scan chain会在固定的cycle报错
: 请问这是什么原因造成的啊？
: ...................
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Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 于 (Thu Jun 17 08:48:53 2010) 提到:
wafer上失效的die是随机分布的
【 在 landk (Sonic) 的大作中提到: 】
先与好的片子对比做一些timing和level的shmoo，如果是pass window小了可以先查查是否
同一个lot的wafer，如果是相同wafer看看失效芯片是不是处在wafer边缘
如果是solid fail，可以先看看失效比例；如果比例较大可以通知foundry协助做PFA进行
分析
【 在 Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 的大作中提到: 】
: scan跑了1000组scan pattern
: 其中部分chip的一条scan chain会在固定的cycle报错
: 请问这是什么原因造成的啊？
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alphehe (路随人茫茫) 于 (Thu Jun 17 09:11:54 2010) 提到:
用生成scan pattern的工具即可定位到fail的cell。
你这种情况很简单，standard cell稳定出错的可能性不大，所以很可能是pattern的问题，将那几个出错的cycle mask就行了
【 在 Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 的大作中提到: 】
: 用什么工具来分析是哪些cell造成的呢？
: 东西是我们买过来的
: 所以我们只能通过对方给制造厂的文件来提取网表文件进行分析
: ...................
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Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 于 (Thu Jun 17 09:43:48 2010) 提到:
他们用的是turbo scan
我们根本没这个工具
稳定出错的大概占出错die比例的50%
占总Die数量的15%
而且制造厂比较烂
也有可能是制造厂的问题
【 在 alphehe (路随人茫茫) 的大作中提到: 】
用生成scan pattern的工具即可定位到fail的cell。
你这种情况很简单，standard cell稳定出错的可能性不大，所以很可能是pattern的问题，将那几个出错的cycle mask就行了
【 在 Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 的大作中提到: 】
: 用什么工具来分析是哪些cell造成的呢？
: 东西是我们买过来的
: 所以我们只能通过对方给制造厂的文件来提取网表文件进行分析
: ...................
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alphehe (路随人茫茫) 于 (Thu Jun 17 11:25:52 2010) 提到:
要看这条chain有多少fail cycle,如果很少的话工艺出错的概率非常小.
你们有analog电路吗？这个对工艺非常敏感。我们刚回来的芯片就是工艺有问题，yield rate超低，主要表现就是在模拟电路
【 在 Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 的大作中提到: 】
: 他们用的是turbo scan
: 我们根本没这个工具
: 稳定出错的大概占出错die比例的50%
: ...................
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vimer (风飞沙) 于 (Thu Jun 17 20:36:54 2010) 提到:
哇，turbo scan..
好亲切好亲切。
【 在 Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 的大作中提到: 】
: 他们用的是turbo scan
: 我们根本没这个工具
: 稳定出错的大概占出错die比例的50%
: ...................
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Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 于 (Thu Jun 17 20:49:03 2010) 提到:
无锡的那个厂做的
【 在 eeGG (鹅蛋) 的大作中提到: 】
ms不低了啊，啥厂做的？
【 在 Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 的大作中提到: 】
: 他们用的是turbo scan
: 我们根本没这个工具
: 稳定出错的大概占出错die比例的50%
: ...................
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Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 于 (Thu Jun 17 20:50:29 2010) 提到:
1000组pattern
每组是1030cycle
总共出现了91次错误
【 在 alphehe (路随人茫茫) 的大作中提到: 】
要看这条chain有多少fail cycle,如果很少的话工艺出错的概率非常小.
你们有analog电路吗？这个对工艺非常敏感。我们刚回来的芯片就是工艺有问题，yield rate超低，主要表现就是在模拟电路
【 在 Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 的大作中提到: 】
: 他们用的是turbo scan
: 我们根本没这个工具
: 稳定出错的大概占出错die比例的50%
: ...................
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alphehe (路随人茫茫) 于 (Fri Jun 18 09:08:46 2010) 提到:
1030cycle里面出现91个cycle的fail还是比较严重的，我猜你们的芯片供应商可能做过
metal fix，然后没有更新scan pattern就把以前的版本发给你们了
【 在 Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 的大作中提到: 】
: 1000组pattern
: 每组是1030cycle
: 总共出现了91次错误
: ...................
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dotaa (寂寞的男人玩dota) 于 (Fri Jun 18 10:53:42 2010) 提到:
没有更新pattern应该不会导致出错。大不了detect不到错误，但不应该无错报错。
【 在 alphehe (路随人茫茫) 的大作中提到: 】
: 1030cycle里面出现91个cycle的fail还是比较严重的，我猜你们的芯片供应商可能做过
: metal fix，然后没有更新scan pattern就把以前的版本发给你们了
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alphehe (路随人茫茫) 于 (Fri Jun 18 12:35:33 2010) 提到:
不明白你的意思，metal fix动了scan chain导致pattern过不了很常见，严谨的做法都是重新生成scan pattern。
LZ可能奇怪为什么有的芯片能过有些不能过，因为芯片里面有些register是未初始化的，正确的pattern在这些初始化的状态shift出来都是未定态，ATE上是mask掉的；如果你的pattern本身不正确，这些cycle给出了确定的golden值，这些golden值与实际register初始值比较出错是可能的。
当然，以上分析都是基于pattern本身的问题，如果你用测试板证明了这些ATE fail芯片确实存在defect，那么接下来就是芯片失效分析，从芯片设计，结构，以及工艺上找原因了。
【 在 dotaa (寂寞的男人玩dota) 的大作中提到: 】
: 没有更新pattern应该不会导致出错。大不了detect不到错误，但不应该无错报错。
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imap (黄泉) 于 (Fri Jun 18 16:34:49 2010) 提到:
觉得很有可能是某个cell的timing问题，如果能用工具定位一下cell再做STA看看
是不是对应path的margin留得比较小阿
【 在 Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 的大作中提到: 】
: scan跑了1000组scan pattern
: 其中部分chip的一条scan chain会在固定的cycle报错
: 请问这是什么原因造成的啊？
: ...................
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vimer (风飞沙) 于 (Sun Jun 20 00:14:28 2010) 提到:
它那好象是同一批次的片子。
有的可以过有的不能过。如果是在出厂
测试时，一般不过可能直接就reject
了。但现在他们好象拿到的是成品
这很奇怪。。
【 在 imap (黄泉) 的大作中提到: 】
: 觉得很有可能是某个cell的timing问题，如果能用工具定位一下cell再做STA看看
: 是不是对应path的margin留得比较小阿
Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 于 (Tue Jun 15 07:47:49 2010) 提到:
scan跑了1000组scan pattern
其中部分chip的一条scan chain会在固定的cycle报错
请问这是什么原因造成的啊？
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vimer (啊！) 于 (Tue Jun 15 08:23:47 2010) 提到:
去查下该chain的rpt看是哪个寄存器。这个寄存器的后沿电路
1 该cycle对应的寄存器出错？这个在对chain测试的时候就能确定
2 给该寄存器值的电路部分有错？
很少上ate，我只是推断2的可能性大。
【 在 Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 的大作中提到: 】
: scan跑了1000组scan pattern
: 其中部分chip的一条scan chain会在固定的cycle报错
: 请问这是什么原因造成的啊？
: ...................
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Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 于 (Tue Jun 15 09:08:30 2010) 提到:
跑了1000组pattern
其中只有几十组出现了error
而且是单个cycle的error
并不是每组pattern都出错的啊
【 在 vimer (啊！) 的大作中提到: 】
去查下该chain的rpt看是哪个寄存器。这个寄存器的后沿电路
1 该cycle对应的寄存器出错？这个在对chain测试的时候就能确定
2 给该寄存器值的电路部分有错？
很少上ate，我只是推断2的可能性大。
【 在 Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 的大作中提到: 】
: scan跑了1000组scan pattern
: 其中部分chip的一条scan chain会在固定的cycle报错
: 请问这是什么原因造成的啊？
: ...................
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aromatic (aromatic) 于 (Tue Jun 15 13:53:40 2010) 提到:
需要分析那几时组出现error是如何造成的
分析一下是哪些cell导致的
或许就是设计上的问题，也可能是制造问题
【 在 Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 的大作中提到: 】
: 跑了1000组pattern
: 其中只有几十组出现了error
: 而且是单个cycle的error
: ...................
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pizzafool ( ) 于 (Tue Jun 15 16:45:50 2010) 提到:
看一看波形先
如果不是timing的问题
就做Yield analysis试试
你们用的啥工具
【 在 Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 的大作中提到: 】
: scan跑了1000组scan pattern
: 其中部分chip的一条scan chain会在固定的cycle报错
: 请问这是什么原因造成的啊？
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Apatriot (翔) 于 (Wed Jun 16 07:11:45 2010) 提到:
fail的chain上fail的cycle固定吗？
【 在 Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 的大作中提到: 】
: scan跑了1000组scan pattern
: 其中部分chip的一条scan chain会在固定的cycle报错
: 请问这是什么原因造成的啊？
: ...................
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landk (Sonic) 于 (Wed Jun 16 22:11:29 2010) 提到:
先与好的片子对比做一些timing和level的shmoo，如果是pass window小了可以先查查是否
同一个lot的wafer，如果是相同wafer看看失效芯片是不是处在wafer边缘
如果是solid fail，可以先看看失效比例；如果比例较大可以通知foundry协助做PFA进行
分析
【 在 Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 的大作中提到: 】
: scan跑了1000组scan pattern
: 其中部分chip的一条scan chain会在固定的cycle报错
: 请问这是什么原因造成的啊？
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Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 于 (Thu Jun 17 08:47:34 2010) 提到:
用什么工具来分析是哪些cell造成的呢？
东西是我们买过来的
所以我们只能通过对方给制造厂的文件来提取网表文件进行分析
他们以前给我们的scan pattern是错误的
我们只是用他们提供的激励在逻辑分析仪上采集数据作为正确的输出
【 在 aromatic (aromatic) 的大作中提到: 】
需要分析那几时组出现error是如何造成的
分析一下是哪些cell导致的
或许就是设计上的问题，也可能是制造问题
【 在 Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 的大作中提到: 】
: 跑了1000组pattern
: 其中只有几十组出现了error
: 而且是单个cycle的error
: ...................
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Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 于 (Thu Jun 17 08:48:02 2010) 提到:
是固定的
【 在 Apatriot (翔) 的大作中提到: 】
fail的chain上fail的cycle固定吗？
【 在 Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 的大作中提到: 】
: scan跑了1000组scan pattern
: 其中部分chip的一条scan chain会在固定的cycle报错
: 请问这是什么原因造成的啊？
: ...................
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Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 于 (Thu Jun 17 08:48:53 2010) 提到:
wafer上失效的die是随机分布的
【 在 landk (Sonic) 的大作中提到: 】
先与好的片子对比做一些timing和level的shmoo，如果是pass window小了可以先查查是否
同一个lot的wafer，如果是相同wafer看看失效芯片是不是处在wafer边缘
如果是solid fail，可以先看看失效比例；如果比例较大可以通知foundry协助做PFA进行
分析
【 在 Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 的大作中提到: 】
: scan跑了1000组scan pattern
: 其中部分chip的一条scan chain会在固定的cycle报错
: 请问这是什么原因造成的啊？
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alphehe (路随人茫茫) 于 (Thu Jun 17 09:11:54 2010) 提到:
用生成scan pattern的工具即可定位到fail的cell。
你这种情况很简单，standard cell稳定出错的可能性不大，所以很可能是pattern的问题，将那几个出错的cycle mask就行了
【 在 Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 的大作中提到: 】
: 用什么工具来分析是哪些cell造成的呢？
: 东西是我们买过来的
: 所以我们只能通过对方给制造厂的文件来提取网表文件进行分析
: ...................
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Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 于 (Thu Jun 17 09:43:48 2010) 提到:
他们用的是turbo scan
我们根本没这个工具
稳定出错的大概占出错die比例的50%
占总Die数量的15%
而且制造厂比较烂
也有可能是制造厂的问题
【 在 alphehe (路随人茫茫) 的大作中提到: 】
用生成scan pattern的工具即可定位到fail的cell。
你这种情况很简单，standard cell稳定出错的可能性不大，所以很可能是pattern的问题，将那几个出错的cycle mask就行了
【 在 Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 的大作中提到: 】
: 用什么工具来分析是哪些cell造成的呢？
: 东西是我们买过来的
: 所以我们只能通过对方给制造厂的文件来提取网表文件进行分析
: ...................
☆─────────────────────────────────────☆
alphehe (路随人茫茫) 于 (Thu Jun 17 11:25:52 2010) 提到:
要看这条chain有多少fail cycle,如果很少的话工艺出错的概率非常小.
你们有analog电路吗？这个对工艺非常敏感。我们刚回来的芯片就是工艺有问题，yield rate超低，主要表现就是在模拟电路
【 在 Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 的大作中提到: 】
: 他们用的是turbo scan
: 我们根本没这个工具
: 稳定出错的大概占出错die比例的50%
: ...................
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vimer (风飞沙) 于 (Thu Jun 17 20:36:54 2010) 提到:
哇，turbo scan..
好亲切好亲切。
【 在 Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 的大作中提到: 】
: 他们用的是turbo scan
: 我们根本没这个工具
: 稳定出错的大概占出错die比例的50%
: ...................
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Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 于 (Thu Jun 17 20:49:03 2010) 提到:
无锡的那个厂做的
【 在 eeGG (鹅蛋) 的大作中提到: 】
ms不低了啊，啥厂做的？
【 在 Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 的大作中提到: 】
: 他们用的是turbo scan
: 我们根本没这个工具
: 稳定出错的大概占出错die比例的50%
: ...................
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Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 于 (Thu Jun 17 20:50:29 2010) 提到:
1000组pattern
每组是1030cycle
总共出现了91次错误
【 在 alphehe (路随人茫茫) 的大作中提到: 】
要看这条chain有多少fail cycle,如果很少的话工艺出错的概率非常小.
你们有analog电路吗？这个对工艺非常敏感。我们刚回来的芯片就是工艺有问题，yield rate超低，主要表现就是在模拟电路
【 在 Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 的大作中提到: 】
: 他们用的是turbo scan
: 我们根本没这个工具
: 稳定出错的大概占出错die比例的50%
: ...................
☆─────────────────────────────────────☆
alphehe (路随人茫茫) 于 (Fri Jun 18 09:08:46 2010) 提到:
1030cycle里面出现91个cycle的fail还是比较严重的，我猜你们的芯片供应商可能做过
metal fix，然后没有更新scan pattern就把以前的版本发给你们了
【 在 Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 的大作中提到: 】
: 1000组pattern
: 每组是1030cycle
: 总共出现了91次错误
: ...................
☆─────────────────────────────────────☆
dotaa (寂寞的男人玩dota) 于 (Fri Jun 18 10:53:42 2010) 提到:
没有更新pattern应该不会导致出错。大不了detect不到错误，但不应该无错报错。
【 在 alphehe (路随人茫茫) 的大作中提到: 】
: 1030cycle里面出现91个cycle的fail还是比较严重的，我猜你们的芯片供应商可能做过
: metal fix，然后没有更新scan pattern就把以前的版本发给你们了
☆─────────────────────────────────────☆
alphehe (路随人茫茫) 于 (Fri Jun 18 12:35:33 2010) 提到:
不明白你的意思，metal fix动了scan chain导致pattern过不了很常见，严谨的做法都是重新生成scan pattern。
LZ可能奇怪为什么有的芯片能过有些不能过，因为芯片里面有些register是未初始化的，正确的pattern在这些初始化的状态shift出来都是未定态，ATE上是mask掉的；如果你的pattern本身不正确，这些cycle给出了确定的golden值，这些golden值与实际register初始值比较出错是可能的。
当然，以上分析都是基于pattern本身的问题，如果你用测试板证明了这些ATE fail芯片确实存在defect，那么接下来就是芯片失效分析，从芯片设计，结构，以及工艺上找原因了。
【 在 dotaa (寂寞的男人玩dota) 的大作中提到: 】
: 没有更新pattern应该不会导致出错。大不了detect不到错误，但不应该无错报错。
☆─────────────────────────────────────☆
imap (黄泉) 于 (Fri Jun 18 16:34:49 2010) 提到:
觉得很有可能是某个cell的timing问题，如果能用工具定位一下cell再做STA看看
是不是对应path的margin留得比较小阿
【 在 Bismark (银河帝国宰相克劳斯·冯·立典拉德公爵) 的大作中提到: 】
: scan跑了1000组scan pattern
: 其中部分chip的一条scan chain会在固定的cycle报错
: 请问这是什么原因造成的啊？
: ...................
☆─────────────────────────────────────☆
vimer (风飞沙) 于 (Sun Jun 20 00:14:28 2010) 提到:
它那好象是同一批次的片子。
有的可以过有的不能过。如果是在出厂
测试时，一般不过可能直接就reject
了。但现在他们好象拿到的是成品
这很奇怪。。
【 在 imap (黄泉) 的大作中提到: 】
: 觉得很有可能是某个cell的timing问题，如果能用工具定位一下cell再做STA看看
: 是不是对应path的margin留得比较小阿