BIT主要完成那些自测试功能啊？

小弟现在在做一个芯片项目，里面涉及到对芯片的自测试，我查看了一下相关的文档，好像涉及到存储器自测试和晶振自测试，但是具体的测试方案我也不是很清楚。恳请大牛指点一下，一般芯片内部自测试包括哪些方面的自测试呢?相应的自测试方案是怎样的呢?有没有相关的比较好的文档给小弟推荐一下呢?不胜感激！

自己顶起来，恳请大牛不吝赐教啊