朋友们，有提高DFT coverage的好办法没

autofix 可以吗?

是有点低，最好的办法是修改代码，肯定是设计代码的时候没考虑DFT的功能。

通常test coverage比较低由以下原因造成，当然假定你的设计比较规范：
1。Memory比较多， 而且没有做bypass logic
2. IP比较多，也没有做bypass logic
3.pad controller有很多分支，在测试模式下无法全测到
小编说代码没法改，估计是主体逻辑设计没法改，建议把memory的bypass logic加上，增加几个点还是可能的。

    谢谢啊。你说的3点全中。呵呵，不过memory有bist控制模块，还有不少fifo...另外bypass logic 没做过，能给个实例吗，多谢

    bypass logic具体我也没有做过，想了解了解！

我理解memory的bypass logic就是一套用于测试的总线，当选中的时候，可以通过
这套总线对memory进行读写的测试?

那不就是BIST模块吗，这个一般来说对于MEMORY是必须的

学习学习了

bypass 顧名思義就是把 input bypass 到 output 阿，
這樣做可以增加 observability and controlabilty 。
只要可以 control input pattern 和 觀察結果就是可以測。

针对pll, adc， memory这些模块，scan-insertion的时候通常视为black-box, 里面的逻辑是没法测的，这些block的端口以及相关逻辑都没法测。
所谓bypass logic，就是把这些black-box的输入和输出在scan mode下关联起来，做法如下：
1。把所有的输组合成一个向量invector
2。把invector每N个bit一组，异或之后用时钟打一拍，这样得到一个invector_d的向量，
3。假定你的输出为DOUT, 写成 assign DOUT = scan ? { invector_d} : DOUT_org;
其中大括号里面需要把invector_d复制，使得和DOUT_org宽度匹配
再声明一点，在atpg的时候，如果能考虑写memory aptg model, bypass logic也可以不加，不过我做过的项目都加了。当然也用了memory atpg model.

    谢了啊

学习一下