内建自测试和扫描链测试问题

Q1.请问内建自测试和扫描链测试问题是分开测试还是可以同时测试?
Q2.如果是分开测试，那么应该是先进行内建自测试还是扫描连测试?
Q3.两种测试都是流片后封装前测试额把?
I am new to dft ，欢迎畅所欲言！