MBIST中的SCAN_TEST信号的作用是什么？

本人最近在做MBIST,碰到程序代码中有SCAN,BIST,NORMAL三种模式.NORMAL就是一般模式对MEMORY进行读写,BIST就是内部自产生向量诊断MEMORY,至于SCAN模式,我一直没弄明白为什么要添加这个模式?希望大虾们不吝赐教

非常感谢你的回答，如果按照你所说的加入SCAN信号是为了bypass MEMORY，那么我认为程序中就只要一个SCAN_TEST信号就可以了，在测试周边逻辑的时候就把SCAN_TEST置高来关闭MEMORY，说明要测试周边逻辑了。但是程序中还有个SCAN_WE_N信号，为什么要加这个信号呢?

work mode:  normal mode
test mode : BIST mode   ---MBIST
                     scan mode   ----SCAN CHAIN
so scan-test just used for scan mode 
you can reference <dft compiler> for more info

Normal scan