微波EDA网,见证研发工程师的成长!
首页 > 微波射频 > 微波射频行业新闻 > 应对LTE测试复杂化及成本挑战 非信令测试将成主流

应对LTE测试复杂化及成本挑战 非信令测试将成主流

时间:03-26 来源:mwrf 点击:

,但是为了检验出厂的手机在真实网络下的表现,在第三站最终测试站仍然采用信令模式。

总体来说,非信令测试的三站式理念结合信令和非信令的优势,把射频指标尽量移到非信令模式下测试,并优化测试顺序和方法,是在确保产品质量的前提下降低成本提高生产效率的好方法,目前已经被国内外各大手机厂商所采用。但是需要注意的是,在非信令测试理念下,信令综测仪仍然起着不可替代的作用。

非信令测试将逐渐成主流

"产业链的合作是非信令测试成功的先决条件"
---安捷伦电子仪器事业部高级市场工程师黄萍

安捷伦电子仪器事业部高级市场工程师黄萍在接受MWRF专访时表示,目前移动设备中的无线功能主要包括2G/3G/LTE、蓝牙、Wi-Fi和GPS。从终端生产测试市场看,为了追求更快的测试速度,芯片厂商不断更新芯片测试模式,同时测试设备厂商与之配合让手机的测试模式和综测仪能协同工作,从而最终在产线上实现产能最大化。因此,产业链的合作是非信令测试成功的先决条件。在芯片支持的前提下,非信令测试能够有效提高测试速率,已经成为许多生产制造厂商的必要选择。这是产业链发展的必然趋势。

黄萍解释,在非信令测试中,待测设备(DUT)的芯片组在验证测试中会被要求输出跨越不同功率等级和频率范围的各种信号,这些预定义发射序列功能可以规范校准测试,缩减器件设置时间,进而缩减测试时间。

目前安捷伦终端非信令测试产品支持所有2G/3G和LTE的无线蜂窝制式,同时还可以方便的进行GPS的测量。根据不同的产测需求,安捷伦推出了非信令测试产品E6607 EXT系列,其中包括单机综测仪E6607B、多端口测试适配器E6617A,以及最新推出的整合式多端口综测仪E6607C,不同客户可根据其产线的不同配置需求进行选择。

以E6607C EXT-C为例,它内置了矢量信号分析、矢量信号发生、高速序列分析功能和 8个用于无线蜂窝制式的双向输入/输出端口以及 4 个用于GNSS(全球导航卫星系统)测试的输出端口,由于多端口并行测试装置已经紧凑的集成在仪器内部,因此大大省去了繁杂的连接附件和复杂的连接工作,有效提高测试速率,同时又能节省生产线的空间和电力需求。为了在多部终端并行测量时也获得高质量的非信令测试,仪器内部的校准模块保证了各端口间的平衡度,动态路损补偿功能自动消除了全信号通路和外部测试线缆及夹具给测量带来的影响,从而保证了测试的准确性和一致性。

利用安捷伦信号分析仪的各项丰富的 X 系列测量技术,EXT系列为客户提供了专为快速生产制造测试而设计的测量应用软件,并针对最新无线芯片组中实施的快速序列非信令测试模式,可以与芯片组同步工作,消除信令开销,实现单次采集多次测量。

"非信令测试是手机产业和测试仪表产业发展的必然趋势"
---上海创远仪器副总裁徐逢春

上海创远仪器副总裁徐逢春向MWRF表示,手机的非信令测试,是近两年逐步在产业界得到推广的测试技术,是测试仪表公司和手机方案公司共同努力的结果,极大地提升了手机测试的速度和稳定性,提高了生产效率。

为全面支持手机产业对非信令测试的需求,创远推出了T6280全制式手机综测仪和T6281手机序列测试接口开关。T6280全制式终端综合测试仪支持LTE(TDD/FDD)/WCDMA/TD-SCDMA/GSM等主流通信制式的信令/非信令测试功能,由于采用了业界领先的分布式系统架构,非信令测试速度达到业界领先水平。T6280采用专用的自动增益控制(AutoScale)技术,可以在一次测量中对手机的整个动态功率(通常为-65dBm~+27dBm)进行自动匹配和测量,达到最优化的测试精度和测试速度。

随着手机单位测试时间的降低,手机生产线上操作员装卸测试终端所占用的终测仪开销越来越大,导致生产过程中昂贵的综测仪表的空闲时间占比增加,为了解决该问题,创远开创性地推出了T6281手机序列测试接口开关,可以对已有的手机生产线进行简单改造,即可提升手机综测仪的使用率接近100%,并极大提升人均的产出。

徐逢春分析,非信令测试是手机产业和测试仪表产业发展的必然趋势,手机生产线上使用的手机综测仪,将很快统一到非信令的模式。通过采用非信令测试,不仅仪器仪表的开支能够有可观的降低,更重要的是可以提高手机的测试速度和测试稳定性,由此可以为手机生产线带来人工、场地、供电等一系列配套开支的节省。

"预计到今年,非信令测试将成主流测试方式。非信令测试市场的竞争也趋向白热化。"
---安立公司产品经理蒋大勃

安立公司产品经理蒋大勃表示智能终端和平板电脑取得了巨大成功,在生产线上需要对这些产品进行快速的测试。同时,无线通信制式也在不

Copyright © 2017-2020 微波EDA网 版权所有

网站地图

Top