应对LTE测试复杂化及成本挑战 非信令测试将成主流

测试的创新设计以及非信令测试技术的采用，使得厂商可在不缩减测试要求情况下极大地增加产出，不但极大地减少了所需测试仪的数量，而且也相应大大减少了对于工厂空间和操作员数量的投入，有效地节约了成本。

马国华分析，LTE带来的挑战主要来自于两方面：更大的带宽和更多的测试时间。LTE采用20MHz带宽的数据信道，今后随着LTE-Advanced技术的引入将扩展至100Mhz带宽的信道。这样就淘汰了很多不具备足够带宽的3G测试仪。LTE可以支持40多个频段，这样支持LTE和WCDMA的多模终端（全球型手机）将需要支持两倍于当前仅支持3G智能手机终端所需要的频段数量。如此一来，将使得测试手机所需时间翻倍，除非有更精良先进的测试方案引入。IQxstream可以支持两套并行的VSA/VSG模块，可以轻易扩展到多DUT的2X2 MIMO测试，以及LTE-A的载波聚合测试。目前LitePoint的IQVector测试解决方案可以覆盖主流的LTE芯片，并提供产线级多DUT并行校准和终测的解决方案。

马国华补充道，LitePoint在国内进行IQxstream的推广经验也表明，多DUT并行非信令测试方案是规模非信令测试的发展方向。在LitePoint进行多DUT非信令测试方案推广过程中，越来越多的仪表厂商也加入了多DUT并行测试的潮流，纷纷推出对应的测试仪表加入非信令多DUT测试推广的大潮中。LitePoint坚定认为，多DUT非信令测试，尤其是有完备测试解决方案的多DUT并行非信令测试解决方案，能够使终端客户的效能，投资利用率得到极大地提升。

非信令测试优势明显  但仍离不开信令模式

"在非信令测试理念下仍离不开信令模式 "
---罗德与施瓦茨（R&S）产品支持总监金海良

罗德与施瓦茨（R&S）产品支持总监金海良表示，手机生产测试正面临越来越多的通信制式和频段与越来越低的销售价格之间的矛盾。若要兼顾完整测试项目与成本因素，就得改变产测仪器的使用方式。为此，R&S率先提出了许多提高生产测试效率的理念，如并行测试、快速校准、快速终测和非信令测试。这些技术已经逐步应用到生产测试中。

R&S大约在8、9年前跟一些芯片和手机厂商合作首次提出了非信令生产测试的概念，2006年R&S率先推出了非信令版本的CMU200（var. 30型号），并被许多国际手机厂商采用。正是因为这一点，新一代综测仪CMW500刚推出时就全面支持非信令，为了适应不同的需求，该仪器既能支持信令也能支持非信令，而且兼顾创新和传统的测试方法。

金海良解释，由于在信令模式下测试射频指标比在非信令下耗时，非信令测试的宗旨是把大量重复的射频指标测试从信令模式移到非信令模式下测试。传统的手机测试分射频校准和最终测试两站，前者在非信令模式下校准手机的收发信机，后者在信令模式下测试手机的射频指标。非信令测试理念在当中插了一站而变为三站：射频校准、射频验证和最终测试。射频指标的测试从以往的最终测试站移到新增加的射频验证站。该站在非信令模式下以更优化的测试顺序完成以往在信令下的射频指标测试。在产线，射频校准和射频验证可以并成一站，因为这两站都是基于手机电路板连接射频头进行测试。之后电路板被装配成整机，再进行最终测试。最终测试往往是在信令模式下用天线耦合测试，以模拟真实网络的情况，重点验证信令过程和确保装配成整机时耳麦和天线安装正常。

值得一提的是，当从信令模式转为非信令模式时，仪器跟芯片厂商的配合会成为关键点。因为在信令模式下综测仪模拟基站与被测手机建立呼叫后进行射频测试，对芯片配合的依赖程度低；而在非信令模式下因为没有信令过程因此对芯片配合的依赖程度很高。CMW500得到了所有LTE芯片厂商的支持，不论采用哪家芯片方案，都能用CMW500进行非信令测试。

另外，即便是提倡非信令测试的今天，生产测试环节还是需要信令的。为什么非信令测试理念下仍然离不开信令模式？金海良告诉MWRF记者，原因是非信令不能完全模拟真实网络的情况。非信令跳过了高层协议，直接控制手机的物理层来进行收发信机测试，不过由于移动通信协议的复杂性，在实现的时候可能产生细微的差异，因此：

1、 新通信制式的早期生产基本都不采用非信令理念。本来新制式下芯片和终端的成熟稳定度就有待验证，况且非信令和信令下终端行为可能有细微差别，为了稳妥起见，新制式下终端生产都采用传统的两站式而不用非信令的三站式测试，等后续产品成熟了再逐渐引入非信令模式。不论是2G、3G还是现在的LTE终端，基本都是采用这一平滑过渡思路。

2、 当产品成熟稳定后，可以采用非信令的三站式测试，把大量的射频指标测试移到基于非信令的射频验证站