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直击PXI TAC 2017:如何应对智能时代下的测试挑战?

时间:05-23 来源:mwrf 点击:

今年正值PXI技术诞生20周年之际,由NI(美国国家仪器,National Instruments,简称"NI")公司主办的PXI TAC 2017近日在深圳隆重召开。作为业界最具影响力的PXI专业论坛,PXI TAC 已经连续举办14年,这次PXI TAC回归本质,以用户为核心,聚焦用户应用,让用户看到最前沿的智能测试技术和趋势,以及在热点应用上的方向。

众所周知,PXI TAC自2004年创办以来经过14年积累,已经是中国地区最大、最具影响力的PXI技术专业论坛。本次论坛应用领域热门高精尖领域全覆盖,卫星、5G、自动驾驶、物联网、802.11ax......近千位观众参会,多家媒体前来报道,可谓盛况空前。

PXI TAC 2017在深圳隆重召开

PXI TAC 2017在深圳隆重召开

图1. PXI TAC 2017在深圳隆重召开

NI研发副总裁梳理PXI技术持续创新20

回顾PXI发展历程,1997年PXI技术诞生,2004年将FPGA技术引入PXI平台,2010年推出业界首款PXI平台矢量网络分析仪,在2012年又发布了业界第一款矢量信号收发仪,2015年推出业界首款基于第三代PCIe总线技术的PXI系统,2017年发布三款新品:MXI Thunderbolt、PXI全新任意波形发生器和802.11ax WTS-IS 1.3。NI是PXI技术的发明者并持续引领该技术创新20年。

NI研发副总裁Steve Warntjes先生发表主题演讲

图2. NI研发副总裁Steve Warntjes先生发表主题演讲

在主题演讲上,NI研发副总裁Steve Warntjes先生说:"NI坚持开放灵活的平台化战略,PXI平台的优势在于可以保证每个模块协同工作,又不会过度定义,对不需要的部分,厂商可以对模块进行ADD屏蔽。"

关于PXI如何提高定时和同步,Steve Warntjes表示:"集成时间和同步能极大地提高生产力,PXI是为自动化而生的,PXI机箱包含专用的10 MHz差分时钟和差分触发,可减轻多设备同步情况下的误差。"

PXI的另外一个优势是高吞吐率和低延迟,他指出,虽然AT系统的吞吐量经常被忽略,数据瓶颈可能会削弱测试速度。设计系统时都会注意到延迟,PXI提供命令并以亚微秒速度接收数据,速度比千兆以太网快1000倍。

PXI 平台相对于传统仪器的优势

PXI 平台相对于传统仪器的优势

图3. PXI 平台相对于传统仪器的优势

相对于传统的软件架构,PXI的优势也不言而喻。PXI系统的软件位于主机上,可实时配置用户定义的测量和分析。用户可以通过将测量分析算法部署到FPGA来进一步灵活的定义功能。信号处理占测量时间的80%以上,传统的仪器不能升级CPU,PXI的CPU可以更新,这样可以大大提高性能,实现最小的投资。

借助NI开放灵活的PXI平台,迎接智能设备爆发带来的测试挑战

如今,智能设备的复杂性不断提升,多重技术融合。面对智能设备的大爆发,工程师需要更加灵活,高可靠性的智能测试系统。在本次论坛的展示区,PXI在各种热门高精尖领域的解决方案和应用实例十分引人注目。

1) FPGA、SMU结合灵活的软件LabVIEW助力测试智能化

基于PXI的高性能FPGA和测量单元(SMU)

图4. 基于PXI的高性能FPGA和测量单元(SMU)

NI FlexRIO设备包括了可采用NI LabVIEW FPGA模块进行编程的现场可编程门阵列(FPGA)模块,以及能提供高性能模拟和数字I/O的适配器模块。适配器模块是可互换的,并可以在LabVIEW FPGA编程环境下定义可用的I/O。

那么,NI FlexRIO配合高速串行板卡能带来什么?

· 板载FPGA实现实时处理和确定控制
· 可重配置I/O(RIO)架构
· 从原型验证到独立分布式部署的完整方案
· 终端到主机1.2GB/s高速光纤串行通信

基于NI SourceAdapt技术的NI系统源测量单元(SMU),灵敏度可达10fA, 用户可以自定义调整SMU响应,采用SCPI标准指令控制,从而实现四象限灵活运行,多通道、高密度、更快速稳定的测量。

LabVIEW 诞生30年来最具革命性的新版本亮相

图5. LabVIEW 诞生30年来最具革命性的新版本亮相

以软件为中心,构建自动化测试生态系统,NI LabVIEW就是通过生态系统而变得更有价值的应用软件之一。

本次PXI TAC,NI展示了全新的LabVIEW——LabVIEW诞生30年来最具革命性的新版本,它具有以下新特性:获得所需的工具和IP,使用最新的系统设计技术,加之不断壮大的硬件和软件生态系统,以及协调分布式系统中大量的连接设备,简化复杂系统的开发。

2) PXI整合式解决方案,直面物联网领域测试挑战

有调研公司数据显示,到2020年物联网将带来每年至少300亿美元的市场利润,届时也将出现25亿个设备连接到物联网上,这一趋势并将继续快速增长。

PXI迎接物联网领域的测试挑战

图6. PXI迎接物联网领域的测试挑战

NI PXI硬件平台配合LabVIEW开发软件为低功耗蓝牙(LE)的测试提供完整的BLE测试方案。支持1.x ,2.x+EDR, 3.x+HS, 4.2 LE,和5.0 LE等标准,提供LabVIEW/NET/CVI/C应用程序接口(API),支持使用HCI进行DTM测试。

多模天线交互操作,Micropross可以提供NFC 测试解决方案,具体可看现场展示的MP500 PT1-NFC,它具有NF

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