爱德万推出Wave Scale系列通道卡：为5G测试铺平道路

爱德万测试推出用于V93000平台的Wave Scale系列通道卡，可提供无线通讯在测试射频(RF)与混合信号IC时较佳的平行度与产能。全新的V93000 Wave Scale RF及V93000 Wave Scale MX卡，是为了提供高度平行多元件同测及元件内部平行测试所打造，能够大幅缩减现有RF半导体的测试成本及上市时间，并且为未来5G装置的测试开创新途。
全新的通道卡以射频及无线通讯市场为目标，对于用来发展LTE、LTE-Advanced、LTE-A Pro等智慧型手机，以及LTE-M、WLAN、GPS、ZigBee、蓝牙及物联网应用相关的半导体元件，提供高效率的测试解决方案。这些新通道卡除了能够因应今日的市场需求，同时也足以面对5G网路的技术变革。

传统的射频测试解决方案是针对射频IC执行多元件测试，例如四元件或八元件同测，但是每次只能在每个元件上测试一项射频标准。Wave Scale RF及相应的Wave Scale MX卡则能够在每个射频元件内，同时测试多个标准或路径，藉由达到元件内部的平行度与极高的多元件同测效率，大幅降低复杂射频装置的测试成本。

Wave Scale RF卡有四组独立的射频子系统，个别具备讯号产生及频率量测的设计，因此可同时测试LTE、GPS、蓝牙、WLAN装置。每个子系统分别有八个连接埠，可同时扇出射频讯号，亦有高达四组独立的量测工具。