NI发布VST2.0助力物联网发展

在科技飞速发展的今天， ICT各领域似乎都插上了"5G"的翅膀，即将乘风而至。智能硬件、可穿戴设备可谓层出不穷，物联网(IOT)将迎来爆发式增长。可以预见，在未来的万物互联时代，不断创新的电子信息科技将会深刻影响人们的生活，一切都将迎来巨大的、令人惊喜的改变。

然而，在那些令人目不暇接的科技创新背后，测试测量技术承载着巨大的助推力。电子科技日新月异，作为其研发设计中关键的测试测量技术必然也将伴随其快速的发展而不断创新。

7月13日，由美国国家仪器有限公司全新研发设计的第二代矢量信号收发仪(VST2.0)宣布全球正式发布。NI以其"软件定义仪器"的创新理念;多项技术指标打破业内常规，并遥遥领先的技术优势，再一次证明了"虚拟仪器"作为未来引领测试测量技术的趋势。

什么是VST 2.0 ?

矢量信号收发仪(VST)是一类全新的仪器，它结合了矢量信号分析仪(VSA)、矢量信号发生器(VSG)与基于FPGA的实时信号处理和控制。NI的全球首台VST还拥有用户可编程FPGA，它允许自定义算法直接用于仪器的硬件设计。这种软件设计的方法让VST拥有了软件定义无线电(SDR)架构的灵活性以及射频仪器的高性能。

2012年NI推出了业界第一款矢量信号收发仪(VST),帮助工程师加速工程设计并降低测试成本，使其"重新定义了仪器仪表"。4年后，伴随科技的日新月异及无线技术的飞速发展，为持续帮助工程师和科学家更好的应对最严峻工程的挑战，解决最严苛的RF设计和测试应用需求，NI推出了VST 2.0。NI PXIe-5840是全球第一款1GHz带宽的VST，它展示了NI通过软件设计的仪器来持续助力工程师的能力，其提供了最具创新性的射频测试、测量和原型验证解决方案来帮助工程师应对复杂且快速多变的无线技术和需求。

VST2.0 的强大特性

VST2.0以其独特的软件定义仪器的创新理念，工程师和科学家们由此可以使用LabVIEW来定制开放的、基于现场可编程门阵列(FPGA)的硬件，来满足特定的、更加灵活的的测试测量需求。

据了解，NI LabVIEW FPGA模块扩展了LabVIEW系统设计软件，以便在NI可重配置I/O(RIO)硬件上应用FPGA，NI VST便是其中之一。由于LabVIEW能够清楚地表现并行架构和数据流，非常适用于FPGA程序的编写，所以用户不论有没有传统FPGA设计的经验都能高效运用可重新配置硬件的功能。作为系统设计软件，LabVIEW能够混合处理FPGA和微处理器(在PC环境中)上的数据，因而用户无需拥有渊博的计算架构和数据处理知识即可实现,这点对于现代通信测试系统的装配尤其重要。

NI PXIe-5840矢量信息号收发仪(VST 2.0)不仅具备快速的测量速度和小巧的生产测试仪器组成结构，同时还拥有研发级箱型仪器的灵活性和高性能。它在单个双插槽PXI Express 模块中结合了一个6.5GHz RF矢量信号发生器、6.5GHz矢量信号分析仪、高性能用户可编程FPGA以及高速串行和并行数字接口。全新的VST2.0具有1GHz的带宽，可用于高级数字预失真(DPD)测试和雷达、LTE-Advanced Pro和5G等高宽带信号;其高测量精度，该仪器的误差矢量幅度(EVM)可以达到-50dB;同时，基于FPGA工程师可使用LabVIEW轻松进行编程，采用基于FPGA的测量硬件和软件，测量速度比传统仪器快10倍;体积小，紧密同步也是其一大特点，单个18插槽机箱最多可支持8×8多输入输出(MIMO)射频配置。

NI VST软件基于强大的LabVIEW FPGA与NI RIO架构，并拥有众多针对客户应用的初始功能，包括应用IP、参考设计、范例和LabVIEW范例项目。这些初始功能包含了所有默认的LabVIEW FPGA特性和预构建的FPGA位文件，以帮助用户快速上手。若没有这些现成的功能，以及高效的LabVIEW、精心设计的应用/固件架构，VST软件设计的特性将会是各类用户不小的挑战，因此正是这些特性将前所未有的高水平定制带向了高端仪器。

超越传统仪器 树立行业新标杆

早在2012年NI 便以"软件定义仪器"为概念推出了第一代的VST产品，当时在测试测量业界被视为重大事件，它的推出树立了测试测量技术发展新的里程碑。多年来NI VST以其超越传统的优异性能，帮助工程师解决了大量的测试测量高难度挑战，已被越来越多的工程师多推崇。据了解，VST2.0相较于第一代VST各项技术指标，在延续其功能技术的同时做了大量升级，体积大幅缩小达33%，具有更强大的灵活性;同时拥有5倍的带宽和更大型的可编程FPGA。诸多指标超越传统仪器，创造多个行业第一。

因此，未来VST2.0将会成为802.11ac/ax设备测试、移动/物联网设备测试、5G设计和测试、RFIC测试、雷达原型等各种应用的理想之眩用来测