NI高速数字ATE和激励响应特性

写程序，使多个模块对同步的外部触发信号进行响应。要获取关于NI-TClk技术的更多信息，请访问ni.com/info并输入信息代码rdtctf，参考《用于模块化仪器定时与同步的NI T时钟技术》技术白皮书。

在使用NI-TClk同步多个模块完成硬件比较之后，如果在一个NI 655x设备上检测到错误，那么只有那个设备存储关于错误的信息。系统中的其他NI 655x设备就好像采样通过那样继续工作。由于每个设备只是记录其自身的错误，您无需担心同一个错误被计算多次；但是，您需要对所有模块的信息进行后期处理，以便在需要采样器错误率的时候建立完整的列表。

6. 结论

在增加每周期双向控制和实时硬件比较之后，相对任何其他基于PC的设备而言，NI 655x数字波形发生器/分析仪提供了更为丰富的数字测试应用解决方案。全新的解决方案涵盖了存储器芯片的功能测试、快速特征提取应用以及BERT（比特错误率测试）。PXI平台的可扩展性和软件的灵活性进一步改进了数字测试仪器的灵活性和功能。