NI高速数字ATE和激励响应特性

驱动器。解码器将预期响应传送到FIFO存储器中，在响应数据开始采集的时候，将预期数据传送到数据比较逻辑中。如果在比较的过程中检测到了错误，出错信息将与采集数据分开存储，确保这些数据可以使用应用软件进行访问，用于进一步的分析。

FPGA为每个检测到的错误存储以下信息：

• 错误采样数
• 出错通道
• 错误总数

4. 常见数字测试应用

本小节解释了如何实现之前章节所讨论的用于通用数字测试应用的数字ATE特性，例如功能测试和特征提取。

功能测试

对于许多行业而言，最重要的测试之一是元件功能测试，例如定制ASIC和商业A/D转换器。需要扩展功能测试的常见双向设备是存储器芯片。图3显示了一个典型的SRAM集成电路（IC）及其管脚输出。

图3：SRAM IC管脚输出

如前所述，典型的存储器集成电路包含三条地址线、八条数据线、一条写启用（WE）线和一条读启用（OE）线。表2显示了一组可以用于测试这块SRAM芯片的数字测试模式。

表2：存储器集成电路的数字测试模式

在WE（写启用）置为高电平时，IC芯片从数字测试仪等外置设备接收数据，并将数据写回由地址线指定的位置中。如果OE（读启用）置为高电平，集成电路从地址线所指定的位置接收数据，并将数据驱动至数据线上。验证这种存储器设备的最后一个步骤是通过比较预期响应分析输出。

下面两个小节讨论了使用NI 655x数字波形发生器/分析仪，在LabVIEW中，利用软件解决方案和硬件解决方案实现功能测试。

软件比较方法

在软件比较应用中，测试仪生成激励数据、采集实际响应数据，然后在存储到主机PC存储器之后完成响应数据的分析。实际响应数据分析完全是在软件中进行的，而不是实时完成的。下面的步骤更为详细地描述了软件比较。

1、如图所示，原始测试数据是用户输入或通过文件读取的。测试数据包含了激励数据和响应数据。

表3：测试向量与激励数据的转换

2、如图所示，纯激励数据是从测试数据中提取的，测试数据中的1和0表示激励数据；所有其他的字符表示没有数据生成，因此电压驱动器必须被置入三态禁用。

3、激励数据通过数字测试仪生成并送入通道中，之后采集响应数据。发生操作和采集操作并行运行。

4、在完成发生和采集之后，应用程序在软件中完成以字节为单位的比较。给出的例子是采集的响应数据。只有当“H”或“L”出现在原始测试数据中的时候，最终通过/不通过的判断才会受到所采集的响应数据的影响。

表4：测试向量与实际响应数据的比较

软件比较要求所有数据传送到主机计算机，进行后处理，使之适合于低速应用。如果所采集到的数据超出了测试仪板载内存的大小，将所有数据传送到主机计算机可能会超出计算机的带宽限制。在这种情况以及其他需要更高比较速率的情形下，必须使用实时硬件比较。

NI LabVIEW是一种图形化编程语言，下面用LabVIEW展示了NI 655x设备的数字软件比较应用的功能。下面的几张图片展示了如何建立独立的发生操作和采集操作，以及如何将它们合并在一个同步功能测试应用中。

首先，图4显示了如何建立发生部分的LabVIEW程序。其中的关键功能包括配置测试仪、读取测试模式并开始进行发生。

图4：LabVIEW高速数字发生程序

在测试数据被载入板载发生内存之前，在图5中所示的原始数字测试数据被解释为激励数据和预期响应数据。在数据被解释之后，激励数据被下载到NI 6552进行发生。

图5：LabVIEW的数字表

建立程序的采集部分十分相似。图6给出了功能测试应用所需的采集程序。

图6：LabVIEW高速数字采集程序

尽管NI 6552支持这两个程序同时工作，但是简单地将它们组合在一起并不是有效的测试方法。简单地同时运行我们的采集程序和发生程序并不能将采集数据与预期响应数据对齐。由于这些程序运行在非确定性软件中，您无法依赖程序的定时来保持一致性。此外，通过被测设备和连接被测设备电缆的传递延迟也必须考虑。数据从数字测试仪通过电缆和被测设备流回测试仪所需的时候称