亚微米IC设计挑战

而新一代的DFT整合解决方案—DFT Compiler MAX，可提供单次测试数据量压缩功能，以解决在130nm及更小的制程技术中，所遭遇到的设计及测试挑战。DFT Compiler MAX为Synopsys独特之单次测试整合解决方案的延伸，可提供高达10～50倍压缩率的简易测试数据量压缩，进而在未大幅影响测试成本的情况下，实现涵盖错误范围广大的深次微米(DSM)测试。此解决方案开放地与Synopsys的Design Compiler?罢?鯣alaxyTM Design Platform相整合，以达到最佳的时序收敛(timing closure)，并协助不具备测试专长的设计者，消除设计与测试实作之间昂贵的重复步骤。