模拟BIST的四项基本原则

引言

　　数字BIST的工作原理：用一个LFSR(线性反馈移位寄存器)生成伪随机的位模式，并通过临时配置成串行移位寄存器的触发器，将这个位模式加到待测电路上。数字BIST亦用相同的触发器捕获响应，将移出的结果压缩成一个数字标志，再将其与一个正确的标志作逐位对比。

　　1 “模拟”的定义

　　“模拟”电路对不同的人有不同的含义。一个PLL或SERDES(串行器/解串器)可以看作是数字的，模拟的，或混合信号的。对这些单元的BIST测试可以是纯数字的，因为这些功能只有数字输入和输出。例如，有些IC会用片上的频率计数器

　　来测量PLL的输出频率，它是用一个基准频率的已知周期数，统计振荡的周期数，如果计数中的任何位不同于期望值，则测试就失败。很多用于测试IC SERDES收发器性能的方法是采用环回的伪随机数据，如检测到一个误码就认为失败。然而，测试ADC或DAC这类模拟电路时，显然要求BIST电路可以生成或捕获模拟信号，即瞬时电压总是相关的信号。传统的模拟电路(如滤波器和线性稳压器)都有模拟输入与输出，不过很多都有数字控制的信号或时钟。最纯粹的模拟电路(如RF电路)可能根本没有数字信号。

　　在测试时，模拟电路至少要有一个非确定性瞬态电压的信号。测试包括对信号的检查，是在两个电压之间，是数字值，还是时间阈值;还要检查信号统计值是否在极限内;或检查一个有关信号的算术运算值是否在极限之间。对所有具备任何模拟信号的电路，都应采用模拟测试原理。

　　纯数字电路的响应是确定性的，因此，一个可接受的输出信号只需要采样一次。不过，如果能看到数字电路信号足够多的细节，如毫伏或皮秒量级，则所有电路都是模拟的。在纳米级CMOS工艺时，这种考虑尤其不能忽视，因为对于1V电源轨以及亚纳秒级时钟周期，电源轨噪声、抖动、温度以及参量变动都有显着的影响。测试模拟电路的BIST电路容易受这些效应影响，哪怕BIST几乎是全数字的，因此，很多模拟设计者都想了解模拟BIST如何比相同芯片上的模拟电路更精确。

　　2 设计模拟BIST的挑战

　　设计用于模拟电路的BIST要比精确提供和捕捉模拟信号更加复杂。信号变动与需要测量的参数都要比数字BIST处理的逻辑0和逻辑1要多得多。模拟激励与响应可以从直流电压、线性斜坡以及脉冲，直到正弦波与频率调制。激励与响应可能还属于不同的域，从而使挑战更加复杂化。例如，一个DC电压输入可能产生一个频率输出。挑战中还增加了需要分析的各种参数，它们可能包括幅度、相位延迟，以及SNR(信噪比)，还有DC电压、峰峰抖动，以及占空比。

　　测试设备一般必须比待测电路精度高一个数量级。于是，最令人生畏的模拟BIST挑战就是：如何经济地实现比待测电路更高的精度，而后者很可能已经实现了在其硅片面积与技术下的最佳精度。信号幅度的范围可能非常巨大。ADC与DAC可以处理动态范围高达224的片上模拟信号，相当于8个数量级。

　　数字BIST可以比作一个正在给自己的多项选择测试打分的学生。他将一个模板放在答题纸上，统计正确答案数。另一方面，模拟BIST则可以比做一个正在做作文考试的学生。这不是一个简单而客观的过程。现在，考虑到实用模拟BIST所必须应用的基础电路原理，应可以了解挑战的量级了。

　　3 基础电路原则

　　3.1 原则一

　　通过施加时序不敏感的数字测试模式、时钟以及DC电压，测试机制本身必须是可测的，而无需片外的线性AC信号或测量。ATE(自动测试设备)在离开工厂前，要做大量的校准与测试。要让BIST成为混合信号ATE的替代方案，就必须在使用前作校准与测试。采用基于扫描的测试，模拟BIST电路的纯数字部分应是可测的，包括逻辑BIST。如果数字电路包含了延迟线或延迟匹配线路，则应测试这些延迟和延迟增量。测量一个延迟的方法是：将延迟线包含或配置到一个回路振荡器中，并用片上频率计数器测量其振荡频率。

　　对模拟BIST中纯 模拟部分的测试则更复杂。有些研究人员建议在自己的模拟BIST中使用一个ADC或DAC，暗含着ATE可以测试它的假设;然而，混合信号ATE仍将是必要的，因此削弱了BIST的很多优势。

　　也许最陈旧的BIST技术就是将一个DAC输出连回到一个ADC输入，或将一个调制器输出连到一个解调器输入，以此完成整个数字测试。这种方法仿佛是用一个未经测试的电路，去测试另外的电路，对补偿失误不敏感。例如，对于ADC中补偿的相似非线性，DAC的非线性则可能过高，因为两者一起要好于任何单独一个。

　　3.2 原则二

模拟BIST的第二个原则是欠采样，即慢于Nyquist速率的采样，这意味着采样速率要低于最高频率的两倍——这对于较慢地分析一个信号是必需的。较慢的采样还有利