IC静电放电的测试方法

压为该批IC的ESD故障临界电压。数量选的越多，该批IC的ESD故障临界电压越精确。

　　6．2静电放电敏感度分类

　　不同的ESD测试标准都规定了静电放电敏感度分类，以下是几个测试标准的静电放电敏感度分类：表4为GJB548A-96（MIL883E）的分类，表5为ESDSTM5．1-2001和JEDECEIA／JESD22-A114-B的分类。在IC经过ESD测试后，就可以根据测试结果，按照你所适用的标准，给你的IC标注静电等级。

　　7结束语

　　随着电子产业的蓬勃发展，元件尺寸的日益缩小、集成度也日益提高，使得静电放电对IC造成的破坏越来越严重，各IC相关的从业人员也越来越重视这个问题，静电放电测试结果已经成为评估产品可靠性的一个重要指标，静电放电测试的主要应用有两个：第一是了解元件的静电放电敏感度等级，提升产品的可靠性，并且可以给制造、封装、测试、组装及运输等人员提供参考；第二可以针对经过ESD测试的元件的弱点做故障分析，以便IC设计人员或工艺人员在查清问题后进行设计或工艺改良。本文就ESD相关的测试原理和测试方法等作了详细的介绍，从文章中可以看到，ESD测试从每一只管脚的测试组合，每一个IC的测试方法，一直到整批IC，ESD故障临界电压的判定，都给我们一个很重要的概念，ESD故障临界电压不是一只管脚的问题，而是整批的问题。