探索复杂RF环境中的射频干扰

本文结论

解决复杂RF环境中的射频干扰问题颇为困难。但是，利用无间断录存方法，工程师可以在长持续时间内连续测量数据，确保捕获所有目标RF事件。专门被改进用于无间断数据捕获的宽带录存系统，尤其是双通道系统，可以非常有效地分析RF环境中系统干扰的特征。在结构化流程中使用这一系统，为找出并分析目标信号提供了一种有效的途径。在干扰问题层出不穷的商业无线及EW应用中，这样的功能变得越来越重要。

作者简介

David Murray是Agilent公司软件和模块方案部门电子测量组的应用工程师

David Murray于1994年加入HP / Agilent。他在包含各种测试和测量产品的射频及微波应用领域拥有18年的经验，其中差不多10年是做制造开发工程师。

David目前是加利福尼亚州圣罗莎的一名应用工作师，专注于模块化形状因子（如PXI和AXIe）的微波和RF应用开发。

David毕业于苏格兰爱丁堡的Heriot-Watt大学，拥有电气与电子工程学士学位。