决定示波器性能高度的模拟技术

写在最后

随着电子技术的快速发展，测试测量任务变得越来越困难。高性能应用，特别是要求芯片检定、串行数据一致性测试、光学调制分析、双倍数据速率(DDR)存储器和宽带RF检验的应用，需要以前不能实现的测试测量功能，包括把杰出的性能(带宽和采样率)和灵活性(端接电压和灵敏度)结合起来，而又不会给信号保真度带来负面影响。因此，市场的需求还会推动示波器不断前行，以现有的半导体工艺和材料，带宽突破100GHz似乎并不是什么难事，据说力科已经在实验室里进行相应的研发，而安捷伦的InP MCM因为设计的原因，做到63GHz而不需改动硬件设计确实属于幸运，下一步无疑要研发新一代MCM去实现更高性能的带宽，提高带宽只是市场需求是否能驱动投入高额研发费用的问题。

真正的挑战还是在于采样率的提升更为艰难，目前，力科和安捷伦都做到160GS/s，而现有的模数转换器似乎最高的单颗也只能做到10GS/s，无疑，多个模数转换器的集成是个非常严峻的挑战，特别是在时钟、校准算法，高速SRAM等方面解决起来非常困难，更重要的是，高频信号基本都是微波信号，测试和捕获起来与低频信号完全不同，对整个采样过程提出更大的挑战。